Kategorie: Alle News

5-DoF- und X-Achsen-Gyro im SOIC-16: Kombinierter Hochleistungs-Gyroskop und Beschleunigungsmesser von muRata

muRata stellt seine bewährte MEMS-Technologie, die bereits in den umspritzten 32-Pin-Gehäusen verwendet wurde, in einem neuen 5-DoF-Hochleistungsprodukt sowie einem einzelnen x-Achsen-Gyro vor. Beide Komponenten, der SCC und der SCR, werden in einem 16-poligen SOIC-Gehäuse seit kurzem angeboten. Diese werden für Betriebstemperaturen zwischen -40 °C und +110 °C spezifiziert ist und bieten eine Winkelrate von +/- 300 °/s für die X- oder X/Z-Achse. ­

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Thermische Mikroantriebe für Nanotechnologien - Thermografie im Bereich der Forschung an MEMS-Mikroantrieben

Mikroelektromechanische Systeme (MEMS) bieten eine Vielzahl von Anwendungsmöglichkeiten auf dem Gebiet der Nanotechnologie. Wachsende Ansprüche an die Miniaturisierung betreffen gleichermaßen die dafür erforderlichen Systemlösungen als auch die zu entwickelnden Sensoren und Steuerelemente. *Bitte den Bericht nur in unveränderter Form für Veröffentlichungen nutzen. Für konkrete Absprachen wenden Sie sich bitte an presse@infratec.de.

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Die neuen äusserst kompakten Differenzdruck Transmitter der Serie 85: MEMS basiert Niederdrucksensoren bis 125Pa

Bei den Druck-Transmitter gibt es sehr viele und verschiedene Produkte auf dem Markt. Differenzdruck-Transmitter, weniger – kompakte Differenzdruck-Transmitter, kaum. Diese Lücke schliesst die neue 85-Serie. IP65 und besser, für Druckbereiche von 125Pa bis 7bar, mit Analoger oder Digitaler Schnittstelle – das sind nur einige Highlights.

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SPEKTRA entwickelt Erreger für Schwingungstests bis Megahertz Frequenzen

Zum Testen und Charakterisieren von Sensoren, die auf MEMS-Technologien basieren, werden von Sensorherstellern und deren Kunden immer hochfrequentere mechanische Erreger benötigt, die sowohl translatorische als auch rotatorische Schwingungen erzeugen können. Waren vor 10 Jahren noch Frequenzen zwischen 20 kHz und 50 kHz ausreichend, wird mittlerweile bereits mit Frequenzen von einigen 100 kHz getestet – und die Anforderungen für die nahe Zukunft gehen in den Megahertz-Bereich.

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SPEKTRA develops exciters for vibration tests up to megahertz frequencies

For testing and characterizing sensors based on MEMS technologies, sensor manufacturers and their customers require increasingly high-frequency mechanical exciters that can generate both translational and rotational vibrations. Whereas 10 years ago, frequencies between 20 kHz and 50 kHz were still sufficient, tests are now already being carried out at frequencies of several hundred kHz – and the requirements for the near future are moving into the megahertz range.

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SPEKTRA S-TEST supports test of sensors with new I3C® interface

The SPEKTRA S-TEST product line, a compact system level test solution for digital sensors, is now supporting the new I3C® standard, version 1.0, in addition to several other sensor interface protocols like JTAG, I2C, SPI, CAN, LIN, SENT and PSI5. This enables the test system to capture and process sensor data during characterization in development laboratories as well as to use this newest sensor interface also during final test of the newest generation of MEMS sensors.

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SPEKTRA S-TEST unterstützt Test von Sensoren mit neuer I3C® -Schnittstelle

Die SPEKTRA S-TEST Produktlinie, die kompakte System-Level-Testlösung für digitale Sensoren, unterstützt neben den Protokollen JTAG, I2C, SPI, CAN, LIN, SENT und PSI5 jetzt auch den I3C®-Standard in der Version 1.0. Damit erlaubt das Testsystem die Aufzeichnung von Sensordaten während der Charakterisierung im Entwicklungslabor als auch die Nutzung dieser Sensorschnittstelle im Final Test in der Fertigung von MEMS-Sensoren der neuesten Generation.

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