Der Surface Inspection Summit (SIS) – mittlerweile Traditionsveranstaltung der Hersteller und Nutzer von Oberflächeninspektionssystemen – wartet auch in diesem Jahr wieder mit einem hochwertigen Programm auf. Die Beiträge setzen sich zusammen aus Forschungsberichten aus Instituten und Industrie und Erfahrungsberichten der Anwender. Das Programm entwickelte ein Komitee aus Experten des Arbeitskreises XPF rvb Jclmstgelyuddv EBLj bje lxa Xexforsuwjd xpx Jqscltw.
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