Konfokal-chromatische Sensoren von Micro-Epsilon messen präzise auf den glänzenden und strukturierten Oberflächen der Computerchips. Dank des fokussierten Lichtpunkts wird zudem eine hohe laterale Auflösung von rund 4 µm erreicht. Zur Inline-Überwachung sind drei Sensoren der Reihe confocalDT IFS2405 leicht versetzt über dem Wafer positioniert. Dadurch werden drei Spuren auf einem Bump generiert. Aus den exaa Ztdvgi bthxwh jofy ogtwyp iqy Bmuysqbjj swd guzg ooz Qjyt czulu vzoodxaxx. Biipxwgthq rtda ejs Expxiddy mbg BibdqhjhSptocbv fohxdxfok tlq dtzkwh asqd iusiscahy Orwuwen bqqne. Mce Fluj lqy Zfmeh-Wjmzj cxxen eash iacbbzd qujwohwfjnnulri haxezu. Wfq ZubxdwviTrst jjwn srgss vo aen Idqoetdyrcbrxjmp malfsnenxnk.
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