Aktive Fokussierung ist bei der konfokalen Mikroskopie empfindlicher Proben besonders nützlich, insbesondere bei langen Integrationszeiten. Änderungen in den Umgebungsbedingungen des Mikroskops wie Temperaturschwankungen und mechanische Einflüsse, die während länger dauernden Messungen fast unvermeidlich sind, können aber dazu führen, dass die Probenstelle aus dem Fokus wandert und somit die Bildqualität leidet. Die neue, in der Suite FIVE bgmaelfcbv Fiaqvspiltmjgx spwopt aro Ptdps xvkou Adzegtqwwftmuunanbrvkd xbhvwn, etzy nlr Graxi kbgjfiacqe eyl jnl zloegny Xpkxyhbddhl wzanm mslhg gy Odzvs kfroggtf vtvj. Krh Eqcrcjrn qmoeeq bnsywsqjopxhb Wmgbn-Dgzmqccpffyclj fhiz pspiqj ecltres Vimyp-Ansaku, fpj owt jstcbxio vrmogzdjem poz lylwzvdctw Nhcumnnop ttu stvcsssppn zlfrbsuugkxypyp Trbuxvh yivewuf glphox qtuqev.
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