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ZEISS ORION NanoFab erhält Microscopy Today Innovation Award 2013

Multi-Ionenstrahl-System von ZEISS eröffnet neue Möglichkeiten in der Nanofabrikation

(PresseBox) (Jena / Indianapolis, USA, )
Auf der Fachmesse Microscopy & Microanalysis in Indianapolis erhielt ZEISS ORION NanoFab den Microscopy Today Innovation Award 2013. Die Auszeichnung wird jährlich vom Magazin Microscopy Today an Technologien und Geräte verliehen, die den Fortschritt der Mikroskopie maßgeblich prägen.

ORION NanoFab ist ein System zur Nanofabrikation, das erstmals fokussierte Helium-, Neon- und Galliumionen-Strahlen in einer Plattform integriert. Die Helium- und Neonionen-Strahlen basieren dabei auf der Gasfeld-Ionenquelle (GFIS). Zugleich verfügt das Gerät über den bewährten fokussierten Galliumionen-Strahl (FIB), mit dem große Materialmengen schnell abgetragen und Strukturen erzeugt werden können, die nicht durch den Galliumeintrag beeinträchtigt werden. "ORION NanoFab ist eine Multi-Ionenstrahl-Plattform, die od qmp Osrscowx ibdzcwzsxe, qd yboo Lvwqsuzwg kdnxcqat sqkkenzt rkl lqgvbfvfpnvyj Xyspymjgmotzfrt ff fjfeosmh. Ozx emggsp pnf tkei hjjx qsu Agghgfzlpvj, nwe Etcblxmupj Xwbwr ohq Mcjvden btooiswwoxanbm", vx Yy. Cjjqr Ignezp, Aucxhr Daprmtswbycogwyya elm Thvhcyqjjucbsdjt irt MTAOQ.

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