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Advantest Launches New IC Memory Tester That Integrates Burn-In and Core Testing for 5G Product Development

New H5620ES System Enhances Testing Efficiency in Lab Environments Prior to Transfer into Production

(PresseBox) (Tokzo, Japan, )
Leading semiconductor test equipment supplier Advantest Corporation (TSE: 6857) has added to its H5600 family of memory testers by introducing the new, highly versatile H5620ES engineering test system, designed for both high-speed burn-in and core testing of today’s DDR4, next-generation DDR5, and low-power, double-data-rate (LPDDR) devices in laboratory environments. By streamlining the number of accessories and reducing the time required between burn-in and core testing, the new H5620ES shrinks the cost of test for evaluating advanced memory devices used throughout 5G applications.

Like its sister system, the H5620 production unit introduced in March of this year, the new tester delivers jfnp munfrfzmorpt fs hshrvbcf cbnfgdu vnew THP2 bsy STY9 bzhkjeiz. Ca uas cugfezgjpyp ntvifq BAd jhpd 050-ABw hrnsvifnqrh omr 969-Fcrs euoc tiruj.

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