Durchsatzstarke Speichertestlösung von Keysight ermöglicht I/U-Kennlinienmessungen mit Pulsen ab 1 ns - beschleunigt die Entwicklung und Markteinführung neuartiger Speichertechnologien, darunter STT-MRAM
. · Schnelle und genaue Charakterisierung neuer Speichertechnologien wie z. B. STT-MRAM – von DC-Messun…