Die SET GmbH bietet zwei neue Lebensdauerprüfsysteme für Leistungshalbleiter an - den HTRB 240 und IOL 200. Mit dem HTRB 240 lassen sich bis zu 240 Prüflinge zeitgleich, den von der Norm geforderten Tests HTGB (high temperature gate bias), HTRB (high temperature reverse bias) und H3TRB (high humidity, high temperature reverse bias) unterziehen. Besonderes Highlight des HTRB 240 sind hierbei die hohen Spannungen von bis zu 1500V bei gleichzeitig hochpräziser Strommessung.
Das zweite System, der IOL 200, deckt den Bereich der Power Zyklus Tests ab, in der Norm als PCsec (typische Zykluszeiten von Sekunden) und PCmin (Zykluszeit von 1 Minute) beschrieben. Hierbei werden die Prüflinge mit Nennströmen zwischen 80A und 1000A zyklisch belastet und die spezifischen Parameter der Bauteile wie Rth, Ts, Tc, und delta Tj überwacht und protokolliert. Ähnlich wie zuvor kann der IOL 200 bis zu 80 Prüflinge zeitgleich Tests unterziehen. Durch eine Reduzierung der Prüflinge pro Test kann eine Erhöhung des Systems-Stroms auf bis zu 1000A erreicht werden.
Beide Systeme basieren auf modernster sbRIO und PXI Technologie von National Instruments und gewährleisten die einfache Wartbarkeit bei gleichzeitig hoher Prozess-Parallelisierung. Frank Heidemann, Geschäftsführer der SET GmbH, sieht dies neben den technischen Eigenschaften als zentralen Mehrwert für den Kunden. "Die beiden neuen Systeme sind modular aufgebaut und können so einfach an die Bedürfnisse unserer Kunden in Umfang und Performance angepasst werden. Durch den Einsatz der sbRIO Technologie war es uns möglich die Messtechnik direkt an den Pin des Prüflings zu bringen und gleichzeitig die Performance der Systeme mit deren Größe zu skalieren."
Gesteuert werden beide Systeme durch ein standardisiertes Testmanagement-Tool mit Visualisierung und Datenbankanbindung. Dies übernimmt die Steuerung der Testabläufe wie auch die Protokollierung der Testergebnisse über Zeiträume von über 1500 Stunden.
Das zweite System, der IOL 200, deckt den Bereich der Power Zyklus Tests ab, in der Norm als PCsec (typische Zykluszeiten von Sekunden) und PCmin (Zykluszeit von 1 Minute) beschrieben. Hierbei werden die Prüflinge mit Nennströmen zwischen 80A und 1000A zyklisch belastet und die spezifischen Parameter der Bauteile wie Rth, Ts, Tc, und delta Tj überwacht und protokolliert. Ähnlich wie zuvor kann der IOL 200 bis zu 80 Prüflinge zeitgleich Tests unterziehen. Durch eine Reduzierung der Prüflinge pro Test kann eine Erhöhung des Systems-Stroms auf bis zu 1000A erreicht werden.
Beide Systeme basieren auf modernster sbRIO und PXI Technologie von National Instruments und gewährleisten die einfache Wartbarkeit bei gleichzeitig hoher Prozess-Parallelisierung. Frank Heidemann, Geschäftsführer der SET GmbH, sieht dies neben den technischen Eigenschaften als zentralen Mehrwert für den Kunden. "Die beiden neuen Systeme sind modular aufgebaut und können so einfach an die Bedürfnisse unserer Kunden in Umfang und Performance angepasst werden. Durch den Einsatz der sbRIO Technologie war es uns möglich die Messtechnik direkt an den Pin des Prüflings zu bringen und gleichzeitig die Performance der Systeme mit deren Größe zu skalieren."
Gesteuert werden beide Systeme durch ein standardisiertes Testmanagement-Tool mit Visualisierung und Datenbankanbindung. Dies übernimmt die Steuerung der Testabläufe wie auch die Protokollierung der Testergebnisse über Zeiträume von über 1500 Stunden.
