Seica SpA, zeigt auf der diesjährigen Electronica folgende u.a. Systeme und neue Testlösungen:
Die neue COMPACT Linie
Vereinigt das Erbe und den Erfolg der historischen Seica In-Circuit und Funktionstestsysteme von Seica, die den Anforderungen der sog. "lean production" entsprechen, mit einer spezifischen Berücksichtigung der Produktionsanforderungen von elektronischen Baugruppen. Sie ist ergonomisch durchdacht und technologisch anspruchsvoll, bietet die höchste Flexibilität, hohe Messgenauigkeit sowie hohe Testgeschwindigkeit, in einem schmalen Gehäuse mit kleiner Standfläche und geringer Leistungsaufnahme, entspricht allen heutigen Anforderungen an zuverlässigen Produkten.
Compact TK
Dies ist unsere kleinste Konfiguration und ist generell für den ICT und On-Board Programming Applikationen empfohlen. Sie ist im hohen Maße durch gute ergonomische Eigenschaften, kleine Standfläche und leichte Wartbarkeit sowie geringe Leistungsaufnahme und verbesserte Bedienersicherheit charakterisiert.
Eigenschaften
- kleine "stand-alone" Lösung auf Rädern
- PARALLEL TEST Option bis zu 4 JOBS
- bis zu 1536 analoge Kanäle
- bis zu 128 hybride Kanäle (max. 10 MHz digital)
- Openfix vektorlose Testoption
- bis zu 3 Benutzernetzteile
- Funktionstest-Erweiterbarkeit
- On Board Programming Eigenschaften
- Boundary Scan Test Option
- Pneumatische/Vacuum Prüfadapteraufnahme inklusive
- Kabinet voll integriert mit PC und Prüfadapteraufnahme
- 230 V, 500 W, Druckluft notwendig
Pilot V8 Flying Probe System:
Die Pilot V8 ist eine innovative Technologie, welche ein Maximum an Leistung in Bezug auf Testgeschwindigkeit, Testabdeckung und Flexibilität besitzt. Die vertikale Architektur des Systems, ist die optimal Lösung zum Antasten des Prüflings (UUT), auf beiden Seiten gleichzeitig. Diese Eigenschaft garantiert eine schnelle, präzise, zuverlässige und wiederholbare Kontaktierung; sie erlaubt auch die volle Verfügbarkeit aller mobilen Ressourcen zum Testen des Prüflings.
Die Pilot V8 ist mit 8 elektrischen Flying Test Probes ausgestattet (4 auf jeder Seite), 2 Openfix Probes (1 auf jeder Seite) und 2 CCD Kameras (1 auf jeder Seite) und 2 Power Probes (1 auf jeder Seite) also insgesamt 14 mobile Ressourcen um den Prüfling zu Testen. Die mobilen Power Probes ermöglichen es, den Prüfling ohne zusätzliche Kabel mit Spannung zu versorgen und sehr einfach Funktionstests zu implementieren.
Die Testwerkzeuge und Techniken der Pilot V8 umfassen:
- FNODE Signaturanalyse an den Netzen des UUT
- Standard analoger und digitaler In-Circuit Test
- Vektorlose Tests (JSCAN und OPENFIX),um ICs nach Opens und Shorts zu testen
- PWMON Netzanalyse für Prüflinge mit Versorgungsspannung
- Durchgangstest um offene Leitungen auf der Leiterplatte zu detektieren
- Visuelle Tests für Komponenten Presence/Absence und Rotation
- Optionale Funktionstests und Boundary Scan Testfähigkeiten
- On Board Programming Werkzeuge für digitale Komponenten
- Optionale Thermal Scan Ressourcen
Halle A1.459 für die Printmedien, Embargo bis 1.10.2012
Die neue COMPACT Linie
Vereinigt das Erbe und den Erfolg der historischen Seica In-Circuit und Funktionstestsysteme von Seica, die den Anforderungen der sog. "lean production" entsprechen, mit einer spezifischen Berücksichtigung der Produktionsanforderungen von elektronischen Baugruppen. Sie ist ergonomisch durchdacht und technologisch anspruchsvoll, bietet die höchste Flexibilität, hohe Messgenauigkeit sowie hohe Testgeschwindigkeit, in einem schmalen Gehäuse mit kleiner Standfläche und geringer Leistungsaufnahme, entspricht allen heutigen Anforderungen an zuverlässigen Produkten.
Compact TK
Dies ist unsere kleinste Konfiguration und ist generell für den ICT und On-Board Programming Applikationen empfohlen. Sie ist im hohen Maße durch gute ergonomische Eigenschaften, kleine Standfläche und leichte Wartbarkeit sowie geringe Leistungsaufnahme und verbesserte Bedienersicherheit charakterisiert.
Eigenschaften
- kleine "stand-alone" Lösung auf Rädern
- PARALLEL TEST Option bis zu 4 JOBS
- bis zu 1536 analoge Kanäle
- bis zu 128 hybride Kanäle (max. 10 MHz digital)
- Openfix vektorlose Testoption
- bis zu 3 Benutzernetzteile
- Funktionstest-Erweiterbarkeit
- On Board Programming Eigenschaften
- Boundary Scan Test Option
- Pneumatische/Vacuum Prüfadapteraufnahme inklusive
- Kabinet voll integriert mit PC und Prüfadapteraufnahme
- 230 V, 500 W, Druckluft notwendig
Pilot V8 Flying Probe System:
Die Pilot V8 ist eine innovative Technologie, welche ein Maximum an Leistung in Bezug auf Testgeschwindigkeit, Testabdeckung und Flexibilität besitzt. Die vertikale Architektur des Systems, ist die optimal Lösung zum Antasten des Prüflings (UUT), auf beiden Seiten gleichzeitig. Diese Eigenschaft garantiert eine schnelle, präzise, zuverlässige und wiederholbare Kontaktierung; sie erlaubt auch die volle Verfügbarkeit aller mobilen Ressourcen zum Testen des Prüflings.
Die Pilot V8 ist mit 8 elektrischen Flying Test Probes ausgestattet (4 auf jeder Seite), 2 Openfix Probes (1 auf jeder Seite) und 2 CCD Kameras (1 auf jeder Seite) und 2 Power Probes (1 auf jeder Seite) also insgesamt 14 mobile Ressourcen um den Prüfling zu Testen. Die mobilen Power Probes ermöglichen es, den Prüfling ohne zusätzliche Kabel mit Spannung zu versorgen und sehr einfach Funktionstests zu implementieren.
Die Testwerkzeuge und Techniken der Pilot V8 umfassen:
- FNODE Signaturanalyse an den Netzen des UUT
- Standard analoger und digitaler In-Circuit Test
- Vektorlose Tests (JSCAN und OPENFIX),um ICs nach Opens und Shorts zu testen
- PWMON Netzanalyse für Prüflinge mit Versorgungsspannung
- Durchgangstest um offene Leitungen auf der Leiterplatte zu detektieren
- Visuelle Tests für Komponenten Presence/Absence und Rotation
- Optionale Funktionstests und Boundary Scan Testfähigkeiten
- On Board Programming Werkzeuge für digitale Komponenten
- Optionale Thermal Scan Ressourcen
Halle A1.459 für die Printmedien, Embargo bis 1.10.2012
