Alle diese Systeme sind jedoch Schwankungen unterworfen, die von veränderten Umgebungsbedingungen bzw. Alterungs- und Degradationseffekten herrühren. Oft sind derart schwerwiegende Abweichungen nicht zuverlässig festzustellen. Die einzige wirkliche Abhilfe stellen für solch einen Fall detektorbasierte Referenzsysteme dar, deren spektrale Sensitivität sich aus elementaren Naturkonstanten ableitet und somit nahezu unabhängig von Umgebungsbedingungen ist.
Laser 2000 GmbH ist der erste Anbieter in Europa, der sog. Trap-Detektoren kommerziell verfügbar macht. Bei diesem Detektortyp („Trap“ = „Falle“) macht man sich die Eigenschaft von speziell angeordneten Silicium-Detektoren zunutze, mehr als 99 % des auftreffenden Lichts zu absorbieren und damit der Messung zugänglich zu machen. Der daraus resultierende Photostrom ist dann nur noch durch die entsprechende Wellenlänge des Lichts sowie (extrem genau bekannten) Naturkonstanten gegeben. Mit diesem außergewöhnlichen Funktionsprinzip lassen sich Messunsicherheiten < 1% erzielen!
Es stehen unterschiedliche Bauformen für kleine (bis ca. 5°) und größere Akzeptanzwinkel (bis ca. 16°) zur Verfügung. Der nutzbare Wellenlängenbereich von 400 – 950 nm ermöglicht eine Fülle unterschiedlicher Anwendungen. Lassen Sie sich diese interessante Innovation auf dem Gebiet der optischen Metrologie unverbindlich vorführen!