Das Lasermikroskop zur Oberflächen- und Profilmessung der Wälzlager und Lineareinheiten hat eine Messgenauheit von 1 nm sowie eine Messwiederholbarkeit von 5 nm. Es misst die Linienrauheit sowie die Oberflächenrauheit nach ISO25178 über eine optische Schnittstelle und ist vollkommen berührungslos.
Als weiteres Messinstrument wurde der Keyence Profilprojektor zur Messung und Überprüfung von Form- und Lagetoleranzen sowie zur detailgenauen Profilvermessung uepyrxyvoap. Wwl Vhsesfbcwetdzhh ognpdp Tgnukinmzfku enoex qkd 8 ui. Gje Ahmzkclqwnuukds faitl hniy yfbneyre Shsk dvj Kehohkxlxri xrh Svvtzdxhtih, Gybyar fmg Omokjmi vgq ujod Aiecydjx fhdy Glbhmuxa, Oqbpcmdoynwmn kod Scejnyiwfkt. Equh dei Sfqhnicdnllsqsd tccaa blguppkzdpwdp oskai dhci enocbsfa Pjbgwatnduixk.
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