JTAG Technologies stellt eine neue Version der führenden JTAG ProVision Boundary Scan Entwicklungs-Tools vor. ProVision hat im Hinblick auf den Funktionsumfang und die Benutzerfreundlichkeit bereits zuvor Maßstäbe gesetzt und bietet jetzt noch mehr Funktionalität innerhalb der graphischen Anwenderschnittstelle.
Mittels der ProVision-Umgebung lassen sich jetzt Designs auch hinsichtlich der Boundary Scan-Testabdeckung untersuchen. Genaue quantitative Ergebnisse für die Testbarkeit - sowohl für die theoretische, als auch für die wirklich erreichte Testabdeckung - lassen sich pro Netz und pro Pin darstellen. Mittels der theoretischen oder maximal erreichbaren Testabdeckung kann vor der Fertigung bestimmt werden, ob die DFT-Ziele des Designs erreicht wurden. Anhand der wirklichen Testabdeckung kann der Testentwickler dann feststellen, ob die potentielle Testabdeckung der Boundary Scan-Implementierung erreicht wurde.
Mit der neuen Version verfügt ProVision über eine direkte Verbindung zum JTAG Visualizer, so dass eine sofortige Darstellung von Pins oder Netzen im Schaltplan und Layout möglich ist. Die interessanten Bereiche werden farblich hervorgehoben, wodurch der Entwickler die Ergebnisse der Testbarkeitsanalyse rasch überblicken kann. Durch diese Darstellung des Schaltplans und Layouts auf dem Bildschirm lassen sich die DFT-Ziele deutlich schneller erreichen, als mit Hilfe der sonst üblichen Papierkopien.
Die Bauteilbibliothek von ProVision wurde ebenfalls erweitert und beinhaltet jetzt Modelle für mehr als 10.000 Nicht-Boundary-Scan-Bauteile. Überdies lassen sich von Anwendern generierte IBIS- und ABEL-Modelle direkt mit dem Tool nutzen und zusätzliche Modelle können einfach mit dem eingebauten Editor erstellt werden. Diese Erweiterungen der Anwenderbibliothek lassen sich auch für nachfolgende Projekte wiederverwenden und minimieren damit die für die Anwendungsentwicklung benötigte Zeit.
Die neueste ProVision Version umfasst zudem neue Funktionen für die Testgenerierung von Clustern aus Nicht-Boundary-Scan-Bauteilen auf mehreren Karten und eine Einzelschritt-Testausführung für das Debugging und die Verifikation. Wie bei den bisherigen Versionen bleibt JTAG ProVision voll kompatibel mit den früheren "Classic" Entwicklungs-Tools, sowie mit allen Produktionssystemen von JTAG Technologies. Die neuste Version ist für Kunden mit gültigem Wartungsvertrag kostenlos verfügbar.
Mittels der ProVision-Umgebung lassen sich jetzt Designs auch hinsichtlich der Boundary Scan-Testabdeckung untersuchen. Genaue quantitative Ergebnisse für die Testbarkeit - sowohl für die theoretische, als auch für die wirklich erreichte Testabdeckung - lassen sich pro Netz und pro Pin darstellen. Mittels der theoretischen oder maximal erreichbaren Testabdeckung kann vor der Fertigung bestimmt werden, ob die DFT-Ziele des Designs erreicht wurden. Anhand der wirklichen Testabdeckung kann der Testentwickler dann feststellen, ob die potentielle Testabdeckung der Boundary Scan-Implementierung erreicht wurde.
Mit der neuen Version verfügt ProVision über eine direkte Verbindung zum JTAG Visualizer, so dass eine sofortige Darstellung von Pins oder Netzen im Schaltplan und Layout möglich ist. Die interessanten Bereiche werden farblich hervorgehoben, wodurch der Entwickler die Ergebnisse der Testbarkeitsanalyse rasch überblicken kann. Durch diese Darstellung des Schaltplans und Layouts auf dem Bildschirm lassen sich die DFT-Ziele deutlich schneller erreichen, als mit Hilfe der sonst üblichen Papierkopien.
Die Bauteilbibliothek von ProVision wurde ebenfalls erweitert und beinhaltet jetzt Modelle für mehr als 10.000 Nicht-Boundary-Scan-Bauteile. Überdies lassen sich von Anwendern generierte IBIS- und ABEL-Modelle direkt mit dem Tool nutzen und zusätzliche Modelle können einfach mit dem eingebauten Editor erstellt werden. Diese Erweiterungen der Anwenderbibliothek lassen sich auch für nachfolgende Projekte wiederverwenden und minimieren damit die für die Anwendungsentwicklung benötigte Zeit.
Die neueste ProVision Version umfasst zudem neue Funktionen für die Testgenerierung von Clustern aus Nicht-Boundary-Scan-Bauteilen auf mehreren Karten und eine Einzelschritt-Testausführung für das Debugging und die Verifikation. Wie bei den bisherigen Versionen bleibt JTAG ProVision voll kompatibel mit den früheren "Classic" Entwicklungs-Tools, sowie mit allen Produktionssystemen von JTAG Technologies. Die neuste Version ist für Kunden mit gültigem Wartungsvertrag kostenlos verfügbar.
