ASTER ergänzt DfT-Lösungen um neue "Design-to-Test" Funktionen

Während der Productronica 2011, die am 15. November ihre Tore in der Neuen Messe München öffnet, wird ASTER Technologies, führender Anbieter von Testability- und Testcoverage-Analyse Tools auf Leiterplattenebene, die Erweiterung seiner Analysewerkzeuge TestWay, TestWay Express, DfT und Test Coverage um ein Tool mit neuen "Design-to-Test" Features präsentieren.

Mit der Verfügbarkeit des neuen Tools hat ASTER den, auf die Layoutierung folgenden, Prozess der Testentwicklung stark beschleunigt, indem Testdateien für Bestückungstest, Röntgenprüfung, optische Prüfung, Flying Prober oder Boundary-Scan automatisch generiert werden. Unterstützt werden Hersteller und Systeme wie z. B. MYDATA; Agilent i3070, Agilent 5DX; Teradyne GR228x, TestStation, Z1800 und Spectrum; Aeroflex; Takaya APT8000/APT9000; Acculogic; Asset; Goepel Electronics; JTAG Technologies und XJTAG.

In einem vor kurzem bei Airbus durchgeführten Experiment konnte die Zeit der Testprogramm-Erstellung um bis zu 30 Prozent verringert werden, indem die Design-to-Test-Dateien für den In-Circuit-Test wie "board", board_xy" bei Agilent, oder die Modelle für hybride, analoge und digitale Bauteile, einschließlich der Disable-Funktionen, automatisch erzeugt wurden.

Darüber hinaus hat ASTER einen Algorithmus zur Testoptimierung in die Export-Datei des Takaya-Flying-Probe-Testers integriert, der Tests besser ausbalanciert und den Boundary-Scan-Test optimiert. Dieser Algorithmus kann entweder durch die theoretische Boundary-Scan Testabdeckung gespeist werden, oder durch die tatsächliche Testabdeckung, die von den Testern von ACCULOGIC, ASSET, GOEPEL Electronics, JTAG Technologies und XJTAG importiert wird. Weitere Export-Dateien sind derzeit in der Entwicklung, um alle Test- und Inspektions-Maschinen der gesamten Bestückungslinie abzudecken.

Christophe LOTZ, Geschäftsführer von ASTER formuliert es so: "TestWay und TestWay Express waren schon immer fähig, Teststrategien zu analysieren, um die gesamte Testabdeckung zu definieren. Jetzt sind wir in der Lage, ein Testprogramm zu generieren, das die tatsächliche Situation des Anwenders berücksichtigt. Das Ausbalancieren verschiedener Tests ist die Grundlage für das Minimieren der Testzyklen. Sich überlappende Tests zwischen verschiedenen Test- und Inspektions-Systemen werden erkannt und eliminiert."

Es wird immer wichtiger, Test- und Bestückungs-Dokumente wie z. B. Bestückungs- und Test-Anweisungen anhand von CAD-Daten zu organisieren und einen nahtlosen Übergang zwischen den Dokumenten und Leiterplatten-Visualisierungstools sicherzustellen. Hierfür hat ASTER ein QuadView-Portal entwickelt, das es Anwendern ermöglicht, ihre elektronische Dokumentation zentral um den QuadView Board-Viewer zu organisieren.

Über die benutzerfreundliche Bedienerschnittstelle werden Daten zentral verwaltet. Unterschiedliche Dokument-Arten wie PDF, HTML, TestWay-Berichte etc. stehen gleichzeitig zur Verfügung, wobei Quervergleiche zwischen allen Dokumenten und den QuadView-Viewern für Layout und virtuellen Schaltplan möglich sind.

Alle Produktmerkmale wie RoHS-Status, Produkt-Familie, Version etc. sind auf einer gemeinsamen Bildschirmansicht verfügbar. Das Portal bietet auch die Möglichkeit, Dokumente Reiter-Kategorien, wie z. B. Bestückung, Test, Steuerung etc., zuzuordnen und sie so zu klassifizieren.