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Umfassende Lösung für mehr Effizienz im faseroptischen Netzbetrieb

Mit dem INX 760 von VIAVI vertreibt LASER COMPONENTS ein wegweisendes neues Steckermikroskop, mit dem sich erstmals nahezu alle Steckertypen überprüfen lassen. Automatisierte...

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Fibre Inspection Probe: Connector Inspection System

LASER COMPONENTS is pleased to offer the Fibre Inspection Probe (FIP) from TEMPO which is a fully automated inspection tool that provides fast and reliable analysis...

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Fiber Inspection Probe FIP100: Handliches Stecker-Prüfsystem

Mit dem FIP100 (Fiber Inspection Probe) von TEMPO vertreibt LASER COMPONENTS ein vollautomatisches Prüfgerät zur schnellen und zuverlässigen Analyse von LWL-Steckverbindern...

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Quantum Nanolaminates: Revolution in Dielectric Layer Designs

LASER COMPONENTS is at the cutting edge of research. As part of the "QuantUV" research project, the R&D department in Olching investigated how the absorption edge...

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Quanten-Nanolaminate: Revolution bei dielektrischen Schichtdesigns

LASER COMPONENTS forscht am Puls der Zeit. Im Rahmen des Forschungsprojekts „QuantUV“ untersuchte die F&E-Abteilung in Olching, wie sich die Absorptionskante von...

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