Neue Standards in der Lichtmesstechnik gekonnt umsetzen
Auf der Laser World of Photonics in München präsentiert Instrument Systems vom 24. bis 27. Juni 2019 leistungsfähige App…
Subpixel metrology of μLED and AR/VR display applications
At Display Week Exhibition in San Jose, CA / USA from May 14 - 16 Instrument Systems GmbH will put spotlight on applicat…
Subpixel-Metrologie für μLED und AR/VR Display-Applikationen
Auf der Display Week 2019 in San Jose, CA/USA, 14.-16. Mai 2019, präsentiert Instrument Systems neue Messanwendungen für…
Abstrahlcharakteristiken hochpräzise vermessen
Auf der Strategies in Light in Las Vegas / USA präsentiert Instrument Systems vom 27. Februar bis 1. März 2019 Applikati…
Radiation characteristics measured with high precision
At Strategies in Light in Las Vegas / USA from 27 February to 1 March 2019 Instrument Systems will be casting a spotligh…
Fast, high-resolution characterization of laser and VCSEL light sources
As a participant at the German pavilion, Instrument Systems is showcasing its premium class spectroradiometers at Photon…
Laser- und VCSEL-Lichtquellen schnell und hochauflösend charakterisieren
Als Teilnehmer am German Pavillon präsentiert Instrument Systems auf der Photonics West / USA seine Spektralradiometer d…
Fast production test of UV-LEDs
Numerous applications, for example in the medical area or in material testing, are based on precisely specified UV radia…
Schneller Produktionstest von UV-LEDs
Zahlreiche Anwendungen, zum Beispiel im medizinischen Bereich oder in der Materialprüfung, basieren auf präzise spezifiz…
New solutions for characterizing SSL and laser light sources at electronica 2018
Instrument Systems supports the lighting industry in the development of innovative products by providing state-of-the-ar…
