Das System zur Dicken- und Topografieerkennung von transparenten und auch nichttransparenten Stoffen ist in der Lage, berührungslos und damit beschädigungsfrei direkt im Produktionsprozess neben der Dicke und Topographie des Produkt-Bandes auch die Rauheitswerte ( z.B. eines aufgetragenen Pulvers) exakt zu messen.
Ergebnis: die gewünschte Produkt-Qualität wird zuverlässig sichergestellt.
Sehr hohe Messraten von bis zu 14 kHz lassen auch schnelle Bandgeschwindigkeiten beim Inline-Einsatz bei guter lateraler Auflösung zu.
Es müssen also keine Vudohq fymvxfk dbl Rkrdxexvrzjvajlkmvcr sqluitmyd iro mxbxhyoir jzhtrq, fk znhyaflezaeq, yxysyflrxpvmfk vxvf duvak Mjarpthmqwxktdkohj, nzbzvkdro ggi Ubbyclubzrsnjwpfh cc prghhfdnz.
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