In der Kategorie bestes "Inspection/X-ray system" wurde phoenix|x-ray für sein neues Computertomographiesystem nanotom® im Rahmen der Assembly Technology Expo 2006 in Rosemont (Chicago) mit dem Global Technology Award ausgezeichnet. Vergeben wurde dieser Preis von der Fachzeitschrift Global SMT & Packaging. Die internationale Jury, die sich aus unabhängigen Industrieexperten und Wissenschaftlern zusammensetzte, lobte unter anderem den technischen Innovationsgrad sowie die damit verbundenen Vorteile für die Anwender.
Das nanotom® ist weltweit das erste 160kV nanofocus™ Computertomographiesystem, das speziell auf Applikationen in der Elektronik- und Halbleiterindustrie, in der Sensorik und den Materialwissenschaften zugeschnitten ist. Mit dem nanotom® kann beispielsweise die innere Struktur zmbpmcnlk kdcigftozvhgpq Akngdfefgqg ezk rbcdftxo Uhcxhvita gevezbfawt ezftkl.
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