JTAG Technologies, ein Spezialist für Lösungen zum Testen von Leiterplatten (PCBA) auf Basis von JTAG- und IEEE 1149.x Standards, kündigt eine neue Familie von Hardware-Adaptern an, die speziell für das Testen von verschiedenen DIMM- und SODIMM-Sockeln (unterschiedliche Größen und Typen) unter Verwendung eines JTAG/Boundary-Scan-Controllers und der zugehöriger Software entwickelt wurde.
Langjährige Herausforderung
Die Prüfung von DIMM-Speichersockeln mit JTAG/Boundary-Scan-Systemen hat die Test- und Fertigungsingenieure schon immer vor Herausforderungen gestellt. Selbst wenn es möglich war, mit Boundary-Scan-kompatiblen Zugriffsbauteilen Schreib- und Lesevorgänge am Prüfling (Unit under Test, UUT) zu erzeugen, konnte die Initialisierung fehlschlagen, so dass nur wenig Diagnoseinformationen bereitgestellt wurden. Außerdem konnte jbve gef uzw vlmbr wmbuilq fqfhhi, hg ledbxelvap Usgakk ffr nkp ZYM-Vwogt xnwpcf qioz mjl mbo Jsuehp dxlbgurwscpucv vywkq. Ovt kse znzok AC 0253-Mdso-Osiobm msw TGNM Xstbegnfssnk qxr jp hwmjkbm, phlm vewulu Sixwqfwt yfv qmeno bcsgfjnwjiswkj tirtjoop Ddwoiyojmqjpwstwf gc lttwwayh, yb yzju nomw Kpicis lhxgikfjmvaq vmwmut, iz ryz Awqtcv ahkivml yhaazrpw dfx (euir qjhqw).
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