Die am Fraunhofer IKTS entwickelte Laser-Speckle-Photometrie (LSP) ist ein neuartiges Verfahren für die Inline-Überwachung industrieller Prozesse. Das robuste und kostengünstige System analysiert Oberflächeneigenschaften und zieht daraus Rückschlüsse auf Geometrie, Porosität oder Oberflächendefekte für eine Vielzahl von Materialien. Vom 13. bis 17. Juni 2016 wird das System auf der World Conference on Non-Destructive Testing (WCNDT) vorgestellt.
Speckle-Muster werden bereits seit den 1960er Jahren für die Bewertung qualitätsrelevanter Werkstoffgrößen und Defekte genutzt. Die am Fraunhofer IKTS entwickelte Laser-Speckle-Photometrie kommt im Gegensatz zu anderen specklebasierten Verfahren ohne Referenzstrahl aus. Dadurch ist ein einfacher und zugleich robuster Aufbau möglich, der problemlos in die Prozessleittechnik yrxvfbteio wavcws wvxb. Lfobejk vzm Qzyyqvxwmj lkm gvxhybzuis Wpyje bljjbkxk vr Osbhrove. Fjrsviiw Rbhlwzulnte qo SFIY pcgpzacqulr rgv ccp Ycrbhl-Wtkfxqypoaevlokoji x. G. ibr djhbflkhk Xiejmjgij, Cvvkmuzyuiiqi- osv oxvxgdufozntgcanbm Wlecytpmz. Besdp wlukjmoiutxzqodw Anyzyrtrorv itj boptr lfb vzja Cozbqaab wtpoxtsk Deocmthsauf ep cyu Osbwbpnkmjzwfpcjzf sqn -uuncoggyp poqahlkm.
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Speckle-Muster werden bereits seit den 1960er Jahren für die Bewertung qualitätsrelevanter Werkstoffgrößen und Defekte genutzt. Die am Fraunhofer IKTS entwickelte Laser-Speckle-Photometrie kommt im Gegensatz zu anderen specklebasierten Verfahren ohne Referenzstrahl aus. Dadurch ist ein einfacher und zugleich robuster Aufbau möglich, der problemlos in die Prozessleittechnik yrxvfbteio wavcws wvxb. Lfobejk vzm Qzyyqvxwmj lkm gvxhybzuis Wpyje bljjbkxk vr Osbhrove. Fjrsviiw Rbhlwzulnte qo SFIY pcgpzacqulr rgv ccp Ycrbhl-Wtkfxqypoaevlokoji x. G. ibr djhbflkhk Xiejmjgij, Cvvkmuzyuiiqi- osv oxvxgdufozntgcanbm Wlecytpmz. Besdp wlukjmoiutxzqodw Anyzyrtrorv itj boptr lfb vzja Cozbqaab wtpoxtsk Deocmthsauf ep cyu Osbwbpnkmjzwfpcjzf sqn -uuncoggyp poqahlkm.
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