Durch die immer höheren Ein-/Ausgangs-Geschwindigkeiten (I/O) der heutigen digitalen und analogen ICs, werden auch die Taktanforderungen beim Test dieser Bauteile immer höher. Um eine möglichst hohe Fertigungsausbeute zu erreichen, werden für den Test von Halbleitern der neusten Generation folgende Anforderungen gestellt:
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