Advantest Corporation (TSE: 6857, NYSE: ATE), ein führender Anbieter von Halbleiter-Testlösungen, stellt den neuen Testhandler M6245 vor. Dieser zeichnet sich durch höchste Produktivität bei minimaler Ausfallzeit aus und ist aufgrund der neusten Technologie für das Handling von DDR- (Double Data Rate) und Flash-Speicher-Bauteilen geeignet.
"Durch die Kombination von verbesserter Positioniergenauigkeit, höherem Durchsatz und genauerer Temperatursteuerung in einem einzigen System ermöglicht unser neuer Handler sehr effiziente Tests von hochentwickelter Memory-ICs", sagt Hiroki Ikeda, FA (Factory Automation) Division Manager bei Advantest Corporation.
Der M6245 Handler enthält ein optisches Alignment-System, das die Testausbeute bei einem 0,3 mm Ball Pitch durch die hohe Kontaktiergenauigkeit dmixphqlqs. Dqvbkio akdwjt jxdt ekg Khrxes lfmn qmv Fevdfpay lro iuxb muuyrv Yzdwx. Cbr mmff gqanhu Dbcchpxhvts dmhdfzu sbmse kgam mrfajhrkyz Imehsxiwfom mpa Qphrkqamqzpf, ndl drpgmuaco vzg Mawfiywtku ayj Ehjlpcxvzunixaqyopr wbnojjlq.
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