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Pressebild_FraunhoferIISB_TEXUS53_ParSiWal2_Siliziumnitrid-Nadeln.jpg

Beschreibung

Rasterelektronenmikroskop-Aufnahme von Si3N4-Nadeln, deren Einbauverhalten in den Siliziumkristall auf der TEXUS 53 Mission untersucht wird. Bild: Fraunhofer IISB

Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB

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