ZEISS Crossbeam setzt neue Maßstäbe in der 3D-Nanotomographie und -Nanofabrikation
ZEISS präsentiert auf der MC 2013 in Regensburg das erste FIB-SEM der neuen Crossbeam-Serie. Es zeichnet sich besonders…
ZEISS präsentiert auf der MC 2013 in Regensburg das erste FIB-SEM der neuen Crossbeam-Serie. Es zeichnet sich besonders…
ZEISS führt ein neues Röntgenmikroskop (XRM) ein, das die dreidimensionale Bildaufnahme im Nanobereich um das Zehnfache…