YXLON International ist als Sponsor der 18. World Conference on Non-Destructive Testing (WCNDT) 2012 in Durban mit interessanten Fachbeiträgen vertreten.
YXLON International, führender Anbieter von industriellen Röntgenprüfsystemen und Computertomographie-Lösungen für die zerstörungsfreie Materialprüfung, unterstützt die diesjährige WCNDT im April in Durban nicht nur als Sponsor finanziell, sondern beteiligt sich auch aktiv mit mehreren Fachbeiträgen an der Gestaltung des Tagungsprogramms sowie des Pre Conference Workshops.
Dr. Klaus Bavendiek wird in einem Vortrag mit dem Titel "Digital reference image catalogues and image viewing" das Fachpublikum im Pre Conference Workshop über die Verwendung und die Implementierung von Referenzbildern, wie sie zum Beispiel in der ASTM E2422 beschrieben wird, informieren. Ebenfalls in diesem Forum hält Dr. Malte Kurfiß et al. einen Vortrag zum Thema "High contrast sensitivity radiography with DDAs - how to exceed film quality?", eine der Kernkompentenzen YXLONs in dem Bestreben, Röntgen zu modernisieren und dabei nicht nur Prüfzeit einzusparen, sondern auch die Bildqualität zu steigern.
Auf der Hauptkonferenz ist YXLON mit drei weiteren Vorträgen vertreten. Dr. Klaus Bavendiek et al. referiert in "New Measurement Methods of Focal Spot Size and Shape of X-ray Tubes in Digital Radiological Applications in Comparison to Current Standards" über die langjährige Arbeit zum Thema Brennfleckvermessung, die zum erfolgreichen Abschluss gekommen ist und in deren Ergebnis ein neuer Brennfleck-Vermessungs-Standard über ASTM und ISO weltweit eingeführt wird.
Mit mathematisch exakten CT Rekonstruktionen beschäftigt sich der Vortrag "Fast and Analytical Exact Reconstruction of Large CT-Volumes" von Dr. Frank Herold et al. Mit neuen Verfahren gelingt es dabei große Datenmengen in kurzer Zeit bei hoher Qualität zu verarbeiten. Über eine der innovativsten Technologien von YXLON, die Digitale Laminographie mit 600kV, berichtet Gerd Streckenbach et al. Diese neue Technologie löst das Problem 3D Daten von sehr großen planaren Objekten zu erstellen.
YXLON erwartet auf der WCNDT 2012 in Durban ein reges Interesse an den vorgestellten Technologien und lädt alle Kunden, Partner und Interessierte zu weiteren Gesprächen auf den YXLON Stand 121, 123 ein.
YXLON International, führender Anbieter von industriellen Röntgenprüfsystemen und Computertomographie-Lösungen für die zerstörungsfreie Materialprüfung, unterstützt die diesjährige WCNDT im April in Durban nicht nur als Sponsor finanziell, sondern beteiligt sich auch aktiv mit mehreren Fachbeiträgen an der Gestaltung des Tagungsprogramms sowie des Pre Conference Workshops.
Dr. Klaus Bavendiek wird in einem Vortrag mit dem Titel "Digital reference image catalogues and image viewing" das Fachpublikum im Pre Conference Workshop über die Verwendung und die Implementierung von Referenzbildern, wie sie zum Beispiel in der ASTM E2422 beschrieben wird, informieren. Ebenfalls in diesem Forum hält Dr. Malte Kurfiß et al. einen Vortrag zum Thema "High contrast sensitivity radiography with DDAs - how to exceed film quality?", eine der Kernkompentenzen YXLONs in dem Bestreben, Röntgen zu modernisieren und dabei nicht nur Prüfzeit einzusparen, sondern auch die Bildqualität zu steigern.
Auf der Hauptkonferenz ist YXLON mit drei weiteren Vorträgen vertreten. Dr. Klaus Bavendiek et al. referiert in "New Measurement Methods of Focal Spot Size and Shape of X-ray Tubes in Digital Radiological Applications in Comparison to Current Standards" über die langjährige Arbeit zum Thema Brennfleckvermessung, die zum erfolgreichen Abschluss gekommen ist und in deren Ergebnis ein neuer Brennfleck-Vermessungs-Standard über ASTM und ISO weltweit eingeführt wird.
Mit mathematisch exakten CT Rekonstruktionen beschäftigt sich der Vortrag "Fast and Analytical Exact Reconstruction of Large CT-Volumes" von Dr. Frank Herold et al. Mit neuen Verfahren gelingt es dabei große Datenmengen in kurzer Zeit bei hoher Qualität zu verarbeiten. Über eine der innovativsten Technologien von YXLON, die Digitale Laminographie mit 600kV, berichtet Gerd Streckenbach et al. Diese neue Technologie löst das Problem 3D Daten von sehr großen planaren Objekten zu erstellen.
YXLON erwartet auf der WCNDT 2012 in Durban ein reges Interesse an den vorgestellten Technologien und lädt alle Kunden, Partner und Interessierte zu weiteren Gesprächen auf den YXLON Stand 121, 123 ein.
