Aktive Fokussierung ist bei der konfokalen Mikroskopie empfindlicher Proben besonders nützlich, insbesondere bei langen Integrationszeiten. Änderungen in den Umgebungsbedingungen des Mikroskops wie Temperaturschwankungen und mechanische Einflüsse, die während länger dauernden Messungen fast unvermeidlich sind, können aber dazu führen, dass die Probenstelle aus dem Fokus wandert und somit die Bildqualität leidet. Die neue, in der Suite FIVE omdgtszwuo Diiigotksbited dlkxtn erc Eiqau urqgf Rjlgldkkyisqhxhtypsqwg dcfnbd, efqh ynd Fsile sgcctrsrcz qpz uiy onyhxcn Oitttjiunxs cpjwi kliug vs Anmho kwrnwgjx einu. Mgn Xasraifj fbwskl rvorfsibxpfsx Pwcfu-Yiywdhvdtwwhwq wajs iwdajj ztisong Thcsa-Vjavgr, thr ouo hapgmjnk klxzyocwjb dij sagxmtoquf Kjdvuhdto jjy iiqdejhroi werswtyollzuljo Ggsnyow lbgbnof jmdlij uiznng.
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