Nur durch die genaue Kenntnis von Ausfallmechanismen, Fehlerquellen und Einflussfaktoren können Fachleute die Zuverlässigkeit von Smart Systems bereits beim Design erhöhen und mittels abgestimmter Teststrategien sicherstellen. Jürgen Freytag von Daimler präsentiert hierzu Methoden, um Fehler in der KfZ-Elektronik zu analysieren. Auf der Konferenz thematisieren Experten zudem die gesetzlich vorgeschriebene und technisch notwendige Redundanz bei sicherheitskritischen Systemen. Maßnahmen, die für einen bestimmten Bauplatz möglich und wirtschaftlich tragbar sind, stellt unter anderem Bernhard Schuch von Continental am Beispiel der Getriebesteuerung vor. Fachleute und Anwender von High-End Produkten beurteilen die Anwendung der IEC 61508 auf Embedded Systems und diskutieren über die Auslegung smarter Systeme für Erschütterungen, Schwingungen, Temperaturwechsel oder aggressive Medien. Sie gehen den Fragen nach, bis zu welcher Hierarchiestufe der Zulieferkette Audits und Überprüfungen der Analysen zur Fehlererkennung notwendig und sinnvoll sind. Zudem beurteilen sie die Voraussetzungen für Zukaufteile, beispielsweise wie sie Consumer-Bauteile für Hightech-Anwendungen nutzen können. Einen Überblick zu Reliability in der Praxis gibt Frank Lubnau von Siemens.
Die fachliche Trägerschaft der Veranstaltung liegt bei der VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM).
Anmeldung und Programm unter www.vdi.de/reliability oder über das VDI Wissensforum Kundenzentrum, Postfach 10 11 39, 40002 Düsseldorf, E-Mail: wissensforum@vdi.de, Telefon: +49 211 6214-201, Telefax: -154