Tektronix, ein führender Anbieter von Test-, Mess- und Monitoring-Systemen, kündigte das modulare Sampling-Oszilloskop TDS8200 an. Zusätzlich stellte das Unternehmen das Phasenreferenzmodul 82A04 vor; das es den Entwicklungsingenieuren ermöglicht, die Leistung von modernsten Hochleistungsprodukten zu charakterisieren und zu validieren. Das neue Oszilloskop kann für eine Bandbreite bis zu 70 GHz konfiguriert werden und ist das einzige Messgerät mit Single-ended- und differenzieller Taktrückgewinnung, das alle derzeitigen und künftigen Standards zur seriellen Datenübertragung zwischen 50 MBit/s und 12,6 GBit/s abdeckt. Das TDS8200 hat mit < 200 fs (rms) den geringsten System-Jitter bei diesen Datenraten. Das TDS8200 versetzt die Entwickler in die Lage, engere Toleranzgrenzen zu setzen, was wiederum die Kosten reduziert und die Leistung der Komponenten steigert.
Das Charakterisieren von seriellen Daten mit eingebetteten Takten war traditionell eine riesige Herausforderung. Die Standards für solche Signale wie XAUI mit 3,125 GBit/s und 2x XAUI mit 6,25 GBit/s erfordern Messgeräte, die diese komplexen Signale mit ultraschnellen Übertragungsraten erfassen können und sie für die präzise Charakterisierung verwenden können. Designs mit begrenztem Jitter-Budget und engen Timing-Grenzen erfordern Test-Equipment mit der besten Signalqualität und der Fähigkeit akkurate und wiederholbare Ergebnisse zu liefern. Bei differenziellen Signalen, muss das Test-Equipment flexibel genug sein, um eine echte differenzielle Datenerfassung und Taktrückgewinnung über viele unterschiedliche Datenraten zu ermöglichen. Das neue TDS8200 erfüllt sämtliche dieser Anforderungen.
„Entwickler digitaler Systeme arbeiten stets an der oberen Leistungsgrenze von Test- und Messgeräten“, sagte John Taggart, General Manager, Electro Optical Products bei der Tektronix Inc. „Die Vorstellung des TDS8200 und des 82A04 repräsentieren eine bisher unerreichte Flexibilität und einen signifikanten Schritt vorwärts bei der Erfassung und Charakterisierung von seriellen Daten mit Übertragungsraten zwischen 2 und 12,5 GBit/s. Bei den schnellsten und anspruchvollsten Anwendungen, können Anwender mit den Messsystemen der Serie TDS8200 die akkuratesten Testergebnisse erzielen.“
Hochentwickelte Fähigkeiten
Das TDS8200 verbessert gegenüber Vorgängermodellen den System-Jitter auf < 200 fs (rms). Diese verbesserte Genauigkeit des Messsystems kann falsche Testergebnisse eliminieren und ermöglicht eine noch genauere Charakterisierung von Design-Toleranzen, was in gesteigerter Leistung der Komponenten und reduzierten Kosten resultiert. Das TDS8200 erfasst Messwerte im zeitbasierten Phasenreferenz-Modus (timebase phase reference mode) mit geringem Jitter bis zu 25-mal schneller als Wettbewerbs-Geräte. Durch Einsatz von FrameScan, einem speziellen Erfassungs-Modus von Tektronix, bietet das TDS8200 die Möglichkeit Random- und deterministischen Jitter zu messen. Mit diesen neuen Oszilloskop-Eigenschaften, können die Ingenieure jetzt wesentlich einfacher akkurate und wiederholbare Compliance-Tests an schnellen differenzialen Signalen mit geringen Pegeln durchführen. Die Möglichkeit, dabei auf eingebettete Takte zu triggern eröffnet die Kreation von neuen Hochleistungsprodukten.
„Da die Geschwindigkeit der Datenübertragung in unseren Entwicklungen ständig steigt, wird die Augenöffnung für einen System-Jitter von 1 ps (rms) von Messgeräten die kürzlich auf den Markt kamen zu einer wichtigen Eigenschaft“, sagte William George, Senior Vice President Operations, Chief Manufacturing Officer bei ON Semiconductor. „Das TDS8200 zusammen mit dem Phasenreferenzmodul 82A04 ist das einzige Messsystem das einen System-Jitter von < 200 fs (rms) und eine entsprechende Bandbreite bietet, um unsere neuen 6-GBit/s-Designs genau zu charakterisieren. Diese Möglichkeit erlaubt es uns, unserem Wettbewerb einen Schritt voraus zu sein und unsere Produkte schneller auf den Markt zu bringen. Das TDS8200 ist die „goldene Referenz“ zum Test der Datenübertragung der aufkommenden neuen Standards.“
Schnelle Taktrückgewinnung zum Test der neuesten Standards
Mit dem elektrischen Taktrückgewinnungsmodul 80A05 bietet das TDS8200 auch die einzige differenzielle Taktrückgewinnungslösung für alle derzeitigen und kommenden Standards für die serielle Datenübertragung von 50 MBit/s bis 12,6 GBit/s. Dies ist ebenfalls die einzige verfügbare Taktrückgewinnungslösung für differenzielle und Single-ended-Signale von 3 bis 6 GBit/s. Die neu aufkommenden Standards in diesem Bereich schließen XAUI, 2x XAUI und SATA2 mit ein. Wenn es mit dem elektrischen Signalerfassungsmodul 80E0x kombiniert wird, liefert das Messsystem eine komplette elektrische Signalanalyse und Taktrückgewinnung für differenzielle und Single-ended-Signale.
Zusätzlich zur Unterstützung der Standardübertragungsraten kann der Anwender kundenspezifische Bitraten spezifizieren, um Geräte, Module und Systeme testen zu können, die mit erst aufkommenden oder nicht standardisierten Datenraten arbeiten. Damit können Anwender in einem weiten Bereich von Datenübertragungsraten arbeiten. Der weite Bereich der Taktrückgewinnung und die Unterstützung von kundenspezifischen Datenübertragungsraten – alles in einem einzigen Modus – liefert eine vollständige Taktrückgewinnungslösung zum Testen einer Vielzahl von standardisierten Datenübertragungsraten in der Computer- und Kommunikationsindustrie.
Das Charakterisieren von seriellen Daten mit eingebetteten Takten war traditionell eine riesige Herausforderung. Die Standards für solche Signale wie XAUI mit 3,125 GBit/s und 2x XAUI mit 6,25 GBit/s erfordern Messgeräte, die diese komplexen Signale mit ultraschnellen Übertragungsraten erfassen können und sie für die präzise Charakterisierung verwenden können. Designs mit begrenztem Jitter-Budget und engen Timing-Grenzen erfordern Test-Equipment mit der besten Signalqualität und der Fähigkeit akkurate und wiederholbare Ergebnisse zu liefern. Bei differenziellen Signalen, muss das Test-Equipment flexibel genug sein, um eine echte differenzielle Datenerfassung und Taktrückgewinnung über viele unterschiedliche Datenraten zu ermöglichen. Das neue TDS8200 erfüllt sämtliche dieser Anforderungen.
„Entwickler digitaler Systeme arbeiten stets an der oberen Leistungsgrenze von Test- und Messgeräten“, sagte John Taggart, General Manager, Electro Optical Products bei der Tektronix Inc. „Die Vorstellung des TDS8200 und des 82A04 repräsentieren eine bisher unerreichte Flexibilität und einen signifikanten Schritt vorwärts bei der Erfassung und Charakterisierung von seriellen Daten mit Übertragungsraten zwischen 2 und 12,5 GBit/s. Bei den schnellsten und anspruchvollsten Anwendungen, können Anwender mit den Messsystemen der Serie TDS8200 die akkuratesten Testergebnisse erzielen.“
Hochentwickelte Fähigkeiten
Das TDS8200 verbessert gegenüber Vorgängermodellen den System-Jitter auf < 200 fs (rms). Diese verbesserte Genauigkeit des Messsystems kann falsche Testergebnisse eliminieren und ermöglicht eine noch genauere Charakterisierung von Design-Toleranzen, was in gesteigerter Leistung der Komponenten und reduzierten Kosten resultiert. Das TDS8200 erfasst Messwerte im zeitbasierten Phasenreferenz-Modus (timebase phase reference mode) mit geringem Jitter bis zu 25-mal schneller als Wettbewerbs-Geräte. Durch Einsatz von FrameScan, einem speziellen Erfassungs-Modus von Tektronix, bietet das TDS8200 die Möglichkeit Random- und deterministischen Jitter zu messen. Mit diesen neuen Oszilloskop-Eigenschaften, können die Ingenieure jetzt wesentlich einfacher akkurate und wiederholbare Compliance-Tests an schnellen differenzialen Signalen mit geringen Pegeln durchführen. Die Möglichkeit, dabei auf eingebettete Takte zu triggern eröffnet die Kreation von neuen Hochleistungsprodukten.
„Da die Geschwindigkeit der Datenübertragung in unseren Entwicklungen ständig steigt, wird die Augenöffnung für einen System-Jitter von 1 ps (rms) von Messgeräten die kürzlich auf den Markt kamen zu einer wichtigen Eigenschaft“, sagte William George, Senior Vice President Operations, Chief Manufacturing Officer bei ON Semiconductor. „Das TDS8200 zusammen mit dem Phasenreferenzmodul 82A04 ist das einzige Messsystem das einen System-Jitter von < 200 fs (rms) und eine entsprechende Bandbreite bietet, um unsere neuen 6-GBit/s-Designs genau zu charakterisieren. Diese Möglichkeit erlaubt es uns, unserem Wettbewerb einen Schritt voraus zu sein und unsere Produkte schneller auf den Markt zu bringen. Das TDS8200 ist die „goldene Referenz“ zum Test der Datenübertragung der aufkommenden neuen Standards.“
Schnelle Taktrückgewinnung zum Test der neuesten Standards
Mit dem elektrischen Taktrückgewinnungsmodul 80A05 bietet das TDS8200 auch die einzige differenzielle Taktrückgewinnungslösung für alle derzeitigen und kommenden Standards für die serielle Datenübertragung von 50 MBit/s bis 12,6 GBit/s. Dies ist ebenfalls die einzige verfügbare Taktrückgewinnungslösung für differenzielle und Single-ended-Signale von 3 bis 6 GBit/s. Die neu aufkommenden Standards in diesem Bereich schließen XAUI, 2x XAUI und SATA2 mit ein. Wenn es mit dem elektrischen Signalerfassungsmodul 80E0x kombiniert wird, liefert das Messsystem eine komplette elektrische Signalanalyse und Taktrückgewinnung für differenzielle und Single-ended-Signale.
Zusätzlich zur Unterstützung der Standardübertragungsraten kann der Anwender kundenspezifische Bitraten spezifizieren, um Geräte, Module und Systeme testen zu können, die mit erst aufkommenden oder nicht standardisierten Datenraten arbeiten. Damit können Anwender in einem weiten Bereich von Datenübertragungsraten arbeiten. Der weite Bereich der Taktrückgewinnung und die Unterstützung von kundenspezifischen Datenübertragungsraten – alles in einem einzigen Modus – liefert eine vollständige Taktrückgewinnungslösung zum Testen einer Vielzahl von standardisierten Datenübertragungsraten in der Computer- und Kommunikationsindustrie.
