Entwickler, die schnelle Prototypenbaugruppen für die Computer-, Kommunikations- und Netzwerk-Industrie entwerfen, integrieren üblicherweise Kontaktflächen in ihr Schaltungsdesign. Diese Flächen kontaktieren Hunderte von Verbindungen mit einem zentralen „Probing“-Punkt, der der Fehlersuche und Evaluation dient. Da die Leiterplatten in ihren Abmessungen schrumpfen, müssen auch diese Testpunkte proportional kleiner werden, ohne Mehrkosten für die Prototypen zu verursachen. Weiterhin ist es wichtig, dass diese Signalzugriffsmethode keinerlei Auswirkungen auf das Messergebnis selbst hat.
Designer die modernste Digitalarchitekturen untersuchen, wandten sich an den Technologieführer Tektronix, um eine Lösung für diese Herausforderungen zu bekommen. Die bahnbrechende D-Max-Probing-Technologie verzichtet nicht nur auf sperrige Steckergehäuse, sondern verbessert auch die Zuverlässigkeit der Verbindung und minimiert die Kontaktfläche – sowie die Kosten – der Kontaktierung auf der Leiterplatte.
„Die neuen Produkte führen unsere Tradition der Innovation und Technologieführerschaft fort, die im Jahr 2002 begann, als Tektronix die ersten wirklich steckerlosen Probes P6860 und P6880 einführte. Diese haben sich inzwischen bei Entwicklern, die mit schwierigsten Messproblemen konfrontiert sind, als De-facto-Standard etabliert“, sagte David Bennett, General Manager, Logic Analyzer Product Line, bei der Tektronix Inc. „Unsere neuen Probes P6960 und P6980 enthalten die D-Max-Technologie, um die derzeit höchste Kontaktdichte und geringste Last auf einer winzigen Anschlussfläche zu erreichen. Die neuen Produkte werden den heutigen Innovatoren dabei helfen, schnelle serielle Bussysteme und extrem kleine digitale Systeme zu entwickeln.“
Industrieführende Kanaldichte ohne Leistungseinbußen Gedacht für Digitaldesigner, die die heutigen Multi-GHz-Busübertragungsraten und entsprechend engere Design-Toleranzen handhaben müssen, bieten die neuen Probes die industrieweit höchste Kanalanzahl pro Anschlussfläche. Sie verfügen über 34 Takt- und/oder Datenkanäle auf einer Fläche, die 61 Prozent kleiner als die der Vorgänger und signifikant kleiner als die von Wettbewerbsprodukten ist. Am wichtigsten ist jedoch, dass die geringen Abmessungen und die hohe Kontaktdichte kürzere Leitungen und ein einfacheres Routen zu den Probing-Stellen ermöglichen, was Leiterplattenfläche einspart.
Durch die D-Max-Technologie besitzen die neuen steckerlosen Probes P6960 und P6980 eine zuverlässige neue Kontaktierungstechnologie, die einen sicheren Kontakt zu den Pads auf der Leiterplatte gewährleistet. Die Probe P6960 hat 34 Kanäle mit Single-ended-Daten- und differenziellen Taktkanälen. Die P6980 besitzt ebenfalls 34 Kanäle, bietet zusätzlich zu den differenziellen Taktkanälen aber auch eine differenzielle Datenerfassung. Diese ermöglicht der Probe P6980 die Aufnahme von extrem schnellen Signalen.