Seica SpA, einer der Weltmarktführer bei der Entwicklung und Herstellung von elektrischen Testlösungen für elektronische Baugruppen und Modulen präsentiert die überarbeitete ATE Flying Probe Plattform Pilot und eine neue Generation von In-Circuit und Funktionstestsystemen aus der Compact Linie auf der electronica 2010.
PILOT ist die vielseitigste und umfangreichste Linie von automatischen Flying Probe Testsystemen am heutigen Markt, mit dem größten Bereich an Lösungen und Leistungsfähigkeit für den Flying Probe Test an elektronischen Baugruppen.
Die Modelle reichen von 4 bis 8 Testnadeln, die gleichzeitig auf einer oder auf beiden Seiten der Baugruppe zugreifen, positioniert in einer entweder horizontalen oder vertikalen Architektur. Dem Geist der konstanten Innovation folgend, was immer die Seica Produkte unterschieden hat, können die Pilot Tester mit den neuesten und originalen Messtechniken ausgestattet werden, wie Flyscan, Thermalscan, Quicktest, Power Probes, Parallel Test, alle anzusehen im Pilot V8 Testsystem am Seica Stand.
Dank dieser innovativen Fähigkeiten, bieten die Seica Systeme umfangreiche Lösungen, die vom traditionellen In-Circuit und Funktionstest, über Boundary Scan, Thermischen Scan, Paralleltest für mehrfache Baugruppen rangieren, zusammen mit kurzen Setup-Zeiten und hoher Fehlerabdeckungsraten für jede Applikation.
Die COMPACT LINIE baut auf die Vorteile der älteren und den Erfolg der Vorgänger-Linien der In-Circuit und Funktionstester, deren spezielle Aufmerksamkeit den Bedürfnissen der heutigen elektronischen Baugruppenfertigung gerecht werden.
Die gesamte Seica Compact Linie präsentiert eine konkurrenzfähige und technologisch durchdachte, ergonomische Lösung, welche eine maximale Flexibilität, hohe Test- und Messgenauigkeit und hohe Testgeschwindigkeit bietet, alles mit einem reduzierten Platzbedarf und extrem niedriger Leistungsaufnahme.
Seica stellt auf der electronica 2010 als besonderes Highlight aus:
Das Compact TK System, dediziert für den In-Circuit Test und ausgestattet mit Paralleltestfähigkeiten, um die Testzeit signifikant zu reduzieren - und weiterhin das Compact DT System, eine interessante Funktionstestlösung, ausgestattet mit analogen, digitalen und Boundary Scan- Messeigenschaften, alle integriert in ein sehr kleines Gehäuse, welches durch hohe Portabilität charakterisiert ist und vorbereitet ist auch für den Einbau in Schränken für komplexere Systeme.
Die Compact VL Lösungen sind die besten verfügbaren für den Automotive-Testbedarf, dank der eingebauten Flexibilität und der Fähigkeit, kundenspezifisch in Hard- und Software konfiguriert werden zu können, um den tag-täglichen Änderungen der Testanforderungen gerecht zu werden, die typisch für diesen Markt sind.
PILOT ist die vielseitigste und umfangreichste Linie von automatischen Flying Probe Testsystemen am heutigen Markt, mit dem größten Bereich an Lösungen und Leistungsfähigkeit für den Flying Probe Test an elektronischen Baugruppen.
Die Modelle reichen von 4 bis 8 Testnadeln, die gleichzeitig auf einer oder auf beiden Seiten der Baugruppe zugreifen, positioniert in einer entweder horizontalen oder vertikalen Architektur. Dem Geist der konstanten Innovation folgend, was immer die Seica Produkte unterschieden hat, können die Pilot Tester mit den neuesten und originalen Messtechniken ausgestattet werden, wie Flyscan, Thermalscan, Quicktest, Power Probes, Parallel Test, alle anzusehen im Pilot V8 Testsystem am Seica Stand.
Dank dieser innovativen Fähigkeiten, bieten die Seica Systeme umfangreiche Lösungen, die vom traditionellen In-Circuit und Funktionstest, über Boundary Scan, Thermischen Scan, Paralleltest für mehrfache Baugruppen rangieren, zusammen mit kurzen Setup-Zeiten und hoher Fehlerabdeckungsraten für jede Applikation.
Die COMPACT LINIE baut auf die Vorteile der älteren und den Erfolg der Vorgänger-Linien der In-Circuit und Funktionstester, deren spezielle Aufmerksamkeit den Bedürfnissen der heutigen elektronischen Baugruppenfertigung gerecht werden.
Die gesamte Seica Compact Linie präsentiert eine konkurrenzfähige und technologisch durchdachte, ergonomische Lösung, welche eine maximale Flexibilität, hohe Test- und Messgenauigkeit und hohe Testgeschwindigkeit bietet, alles mit einem reduzierten Platzbedarf und extrem niedriger Leistungsaufnahme.
Seica stellt auf der electronica 2010 als besonderes Highlight aus:
Das Compact TK System, dediziert für den In-Circuit Test und ausgestattet mit Paralleltestfähigkeiten, um die Testzeit signifikant zu reduzieren - und weiterhin das Compact DT System, eine interessante Funktionstestlösung, ausgestattet mit analogen, digitalen und Boundary Scan- Messeigenschaften, alle integriert in ein sehr kleines Gehäuse, welches durch hohe Portabilität charakterisiert ist und vorbereitet ist auch für den Einbau in Schränken für komplexere Systeme.
Die Compact VL Lösungen sind die besten verfügbaren für den Automotive-Testbedarf, dank der eingebauten Flexibilität und der Fähigkeit, kundenspezifisch in Hard- und Software konfiguriert werden zu können, um den tag-täglichen Änderungen der Testanforderungen gerecht zu werden, die typisch für diesen Markt sind.
