Das auf der CONTROL 2015 präsentierte TMS-350 TopMap In.Line ist auf die Bedürfnisse der Qualitätssicherung in der Fertigung zugeschnitten. Das berührungslos arbeitende Messsystem basiert auf dem etablierten und rückführbar messenden Verfahren der Weißlichtinterferometrie. Durch die kompakten Abmessungen lässt sich das System einfach in die Fertigungslinie integrieren. Dort erkennt es Fertigungstrends und Produktionsfehler frühzeitig.
In wenigen Sekunden erfasst das TMS-350 TopMap In.Line innerhalb eines etwa 20 mm großen Messfeldes flächige Messdaten. Weitere Messfelder sind verfügbar, so dass Sie das Messsystem genau auf Ihre Messaufgabe zuschneiden können. Mit einem Höhenmessbereich von bis zu 500 µm ist das TMS-350 ideal zur Toleranzprüfung von Ebenheits-, Parallelitäts- und Stufenhöhenwerten geeignet. Die Verwendung neuster Sensortechnik ermöglicht es Ebenheitstoleranzen in 1-2 Sekunden zu überprüfen, ohne dabei Kompromisse bei der Wiederholpräzision einzugehen.
Zusammen mit dem TMS-350 TopMap In.Line veröffentlicht Polytec die neuste Version der anwendungsfreundlichen TMS Mess- und Auswertesoftware. Diese ermöglicht die Bauteillage innerhalb des Messfeldes automatisch zu erfassen und vordefinierte Auswerteroutinen automatisch an die Bauteilposition anzupassen. Dadurch entfallen bei der produktionsnahen Stichprobenkontrolle aufwendige Probenhalterungen und die Ergebnisse sind bedienerunabhängig.
Die Polytec TopMap Familie, die sich durch Messsysteme für die Qualitätssicherung auszeichnet, wird mit dem TMS-350 TopMap In.Line Weißlichtinterferometer erweitert und setzt neue Akzente hinsichtlich der Qualitätskontrolle in der Fertigung mit schnellen Messzeiten bei hoher Wiederholpräzision.
In wenigen Sekunden erfasst das TMS-350 TopMap In.Line innerhalb eines etwa 20 mm großen Messfeldes flächige Messdaten. Weitere Messfelder sind verfügbar, so dass Sie das Messsystem genau auf Ihre Messaufgabe zuschneiden können. Mit einem Höhenmessbereich von bis zu 500 µm ist das TMS-350 ideal zur Toleranzprüfung von Ebenheits-, Parallelitäts- und Stufenhöhenwerten geeignet. Die Verwendung neuster Sensortechnik ermöglicht es Ebenheitstoleranzen in 1-2 Sekunden zu überprüfen, ohne dabei Kompromisse bei der Wiederholpräzision einzugehen.
Zusammen mit dem TMS-350 TopMap In.Line veröffentlicht Polytec die neuste Version der anwendungsfreundlichen TMS Mess- und Auswertesoftware. Diese ermöglicht die Bauteillage innerhalb des Messfeldes automatisch zu erfassen und vordefinierte Auswerteroutinen automatisch an die Bauteilposition anzupassen. Dadurch entfallen bei der produktionsnahen Stichprobenkontrolle aufwendige Probenhalterungen und die Ergebnisse sind bedienerunabhängig.
Die Polytec TopMap Familie, die sich durch Messsysteme für die Qualitätssicherung auszeichnet, wird mit dem TMS-350 TopMap In.Line Weißlichtinterferometer erweitert und setzt neue Akzente hinsichtlich der Qualitätskontrolle in der Fertigung mit schnellen Messzeiten bei hoher Wiederholpräzision.
