Neuer Präzisions-XY-Messtisch für industrielle Anwendungen von PI miCos

Microscopy Cross Stage MCS (PresseBox) ( Karlsruhe, )
Der neue MCS Kreuztisch von PI miCos für die industrielle Messtechnik vereint hohe Führungs- und Positioniergenauigkeit mit Traglasten bis 20 kg und hoher Dynamik.

Anwendungsgebiete sind industrielle Oberflächenmesstechniken wie Topologiemessungen an Werkstücken und Optiken oder Strukturmessungen an Halbleiterwafern.

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