National Instruments bietet breite Unterstützung für den Test von Halbleiterbauelementen mit der neuen PXI Semiconductor Suite

Zehn neue DC-, Digital-, RF- und Schaltmodule bieten ein Optimum an Flexibilität für Mixed-Signal-Testanwendungen

PXI Semiconductor Suite
(PresseBox) ( München, )
National Instruments (Nasdaq: NATI) stellt heute mit der PXI Semiconductor Suite insgesamt zehn neue Produkte vor, welche die PXI-Plattform speziell um Funktionen zum softwaredefinierten Test von Mixed-Signal-Halbleitern erweitern. Die PXI Semiconductor Suite ist für den Einsatz mit der grafischen Systemdesignsoftware NI LabVIEW optimiert und umfasst vier Hochgeschwindigkeits-Digital-I/O-Module (HSDIO), zwei Schaltmodule für digitale Signale, zwei erweiterte 6,6-GHz-RF-Vektorsignalgeneratoren/analysatoren (VSG/VSA), eine Präzisions-SMU (Source Measure Unit) sowie eine spezielle Software für den Import digitaler Vektordateien. Die neue NI PXI Semiconductor Suite integriert zahlreiche Funktionen, u. a. Digital-I/O-Operationen mit 200 MHz, eine Stromauflösung von 10 pA, schnelle Mehrband-RF-Messungen, automatisierte Schaltvorgänge zwischen DC und digitalen Systemen sowie die Möglichkeit, Daten aus Dateien der Formate Waveform Generation Language (WGL) und IEEE 1450 Standard Test Interface Language (STIL) zu importieren.

Die PXI Semiconductor Suite optimiert die PXI-Plattform in erster Linie für den Test gängiger Halbleiterbauelemente wie z. B. A/D- und D/A-Wandler, integrierte Schaltkreise zur Energieverwaltung (PMICs, Power Management Integrated Circuits), Wireless-ICs (RFICs, Radio Frequency ICs) sowie für MEMS-Bauelemente (MicroElectro-Mechanical Systems). Aufgrund vielfältiger neuer Funktionen ermöglicht die PXI Semiconductor Suite höhere Prüfdurchsätze, größere Flexibilität und kürzere Entwicklungszeiten im Vergleich zu traditionellen Standalone-Messgeräten und ATE-Lösungen, die zur Charakterisierung, Validierung und zum Produktionstest von Halbleitergeräten eingesetzt werden.

"Die PXI-Produkte der neuen PXI Semiconductor Suite von National Instruments ermöglichen den direkten Import von WGL- und STIL-Designvektoren und damit die einfache Validierung digitaler Protokolle und kritischer Timing-Parameter unserer IC-Designs", so David Whitley, Evaluation Engineer bei Analog Devices, Inc. "PXI und LabVIEW bieten uns eine flexible Plattform für die Charakterisierung unterschiedlichster Signale. Wir können damit anwenderdefinierte Tests zügig konfigurieren und so unsere Produktentwicklungszeit und Evaluierungskosten reduzieren."

Die Produktfamilie NI PXIe-654x (HSDIO) wurde um vier neue PXI-Module ergänzt. Diese bieten Taktraten bis zu 200 MHz (singleended, unsymmetrisch) und Datenraten bis zu 400 Mbps. Anwender können damit High-Speed-Chipdesigns testen und dabei auch schnellere anwenderdefinierte Kommunikationsprotokolle einbeziehen. Die Module bieten zusätzliche Funktionen, wie z. B. bidirektionale Kommunikation, Bitvergleich in Echtzeit, DDR-Modus (Double Data Rate), unterschiedliche Datenverzögerung für einzelne I/O-Bänke sowie eine Auswahl an 22 Spannungspegeln zwischen 1,2 und 3,3 V, und sorgen somit für noch mehr Flexibilität bei Digital-I/O-Tests. Diese neuen Digital-I/O-Module erweitern die Produktfamilien NI PXI-654x, PXI-655x und PXI-656x (HSDIO) auf insgesamt 10 PXI-Module und ermöglichen Taktraten bis zu 200 MHz in den Konfigurationen singleended (unsymmetrisch) oder differenziell (symmetrisch, LVDS).

Die neue Präzisions-SMU NI PXI-4132 besitzt eine Messempfindlichkeit bis zu 10 pA für hochauflösende Strommessungen. Sie integriert dezentrale 4-Leiter-Messungen und einen Guard-Anschluss und stellt auf einem einzigen PXI-Steckplatz bis zu ±100 V bereit. Außerdem bietet die SMU eine Vielzahl an Erweiterungen, u. a. eine integrierte Sequencing-Engine für hardwaregetaktete Kennlinienaufnahmen und die Möglichkeit, mehrere SMUs des Typs PXI-4132 über die PXI-Backplane zu triggern und zu synchronisieren. Die SMU PXI-4132 ergänzt die SMU NI PXI-4130, die einen Vier-Quadranten-Ausgang mit 40 W (±20 V, ±2 A) bereitstellt, um Optionen für höhere Präzision und höhere Leistung.

Die neuen Schaltmodule NI PXI-2515 und NI PXIe-2515 ergänzen die Produktpalette, indem sie Anwender in die Lage versetzen, Präzisions-DC-Messgeräte direkt auf HSDIO-Kanäle zu multiplexen, die mit dem Prüfling verbunden sind. Die neuen Schaltmodule verbessern außerdem die Signalanbindung für parametrische Messungen, während die Signalintegrität auf Hochgeschwindigkeits-Digitalflanken gewahrt bleibt.

Der neue PXI-Expressbasierte RF-Vektorsignalanalysator NI PXIe-5663E und der RF-Vektorsignalgenerator NI PXIe-5673E (beide für bis zu 6,6 GHz) ermöglichen die schnelle und deterministische Änderungen von RF-Parametern mittels einer neuen Funktion, dem RF List Mode, und tragen so zu einer erheblichen Erhöhung des Prüfdurchsatzes bei. Mit dieser neuen Funktion können Anwender vorkonfigurierte Geräteparameter laden und so verschiedene RF-Konfigurationen ohne Verzögerung abarbeiten. Das ist besonders nützlich, wenn Leistungsverstärker oder andere RFICs geprüft werden, bei denen die Leistung bei mehreren Frequenzen verifiziert werden muss. Diese Zusatzfunktion unterstützt RF-Ingenieure dabei, Mehrband-RF-Messungen erheblich schneller als mit traditionellen Messgeräten durchzuführen.

Die PXI Semiconductor Suite verfügt auch über eine Lösung für den effizienten Import digitaler Vektorformate wie WGL und STIL. So wird die Integration von Design und Test beim Einsatz digitaler High-Speed-PXI-Produkte von NI optimiert. TSSI TD-Scan für NI-Software ist das Ergebnis der Zusammenarbeit von NI und Test Systems Strategies, Inc. (TSSI) und erlaubt den Import von WGL- und STIL-Simulationsvektoren in PXI-Systeme, eine Aufgabe, die bisher anwenderdefinierte Softwareentwicklungen erforderte. Eine Evaluierungsversion des WGL/STIL-Softwarewerkzeugs, das alle Produkte der Serien NI PXI-654x, PXI-655x und PXI-656x HSDIO unterstützt, steht unter ww.ni.com zur Verfügung. Die Vollversion kann direkt bei TSSI erworben werden.

Unter http://www.ni.com/... erfahren Sie mehr über die PXI Semiconductor Suite und wie Analog Devices, Inc. und andere NI-Kunden PXI und LabVIEW einsetzen, um ihre Kosten für Chiptests zu senken.
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