CISC Semiconductor lanciert das erste RFID Tag Measurement & Evaluation Test System basierend auf National Instruments LabVIEW

RFID-Transponder-Messtechnik

(PresseBox) ( München, )
Die Auswahl des RFID-Transponders ist zu Beginn einer RFID-Einführung eine der schwierigsten Aufgaben. CISC Semiconductor entwickelte deshalb ein RFID Measurement & Evaluation Test System (MeETS) basierend auf NI LabVIEW. Dieses Tool ist in der Lage, die Charakteristiken und Leistungsfähigkeit des Transponders zu messen. Weiters ermöglicht MeETS Test- und Evaluierungsverfahren für die Bereiche Lesereichweite, Orientierung, Leistungsfähigkeit und Frequenzbereiche von RFID-Transpondern.

CISC RFID MeETS (Measurement and Evaluation Test System) unterstützt Hersteller von RFID-Transpondern, RFID-Projektleiter, Forschungseinrichtungen oder Endanwender, indem die spezifischen Transponder-Charakteristiken definiert und die Performance evaluiert werden. Somit ist MeETS nicht nur für den Forschungsbetrieb oder hochspezialisierte Einrichtungen entwickelt, sondern für jedermann, der gerne in die RFID-Welt eintauchen möchte. Die MeETS Library basiert auf der Software NI LabVIEW und PXI-Hardware.

CISC konnte sein RFID-Know-how bereits im EECC (European EPC Competence Center) Transponder Test Center einbringen, indem es die softwareseitige Grundlage für die Messtechnik schuf. Daraufhin bat NI CISC, eine RFID Transponder Performance Test Library für LabVIEW zu designen.

„Es freut uns, mit CISC zusammenzuarbeiten“, sagt Sean Thompson, RF und Communications Segment Manager bei NI. „CISC verwendet schon seit langem NI Tools und bringt sehr viel Erfahrung im Bereich RFID-Messtechnik mit. CISC ergänzt die bestehende NI Messtechnik um eine wertvolle Library.“

RFID-Transponder-Messtechnik Bis 2010 werden 33 Milliarden RFID-Transponder produziert sein, die RFID-Branche wächst in den letzten Jahren sehr stark und wird in den nächsten Jahren noch schneller wachsen. Die derzeitige Situation für RFID-Entscheider ist nicht so einfach: Es werden eine Vielzahl unterschiedlicher Transponder-Designs und -Varianten unterschiedlicher Hersteller für vielfältigste Anwendungen angeboten. Darüber hinaus muss bei der Entscheidungsfindung noch beachtet werden, dass gewisse Substanzen (Metalle, Flüssigkeiten, Plastik) die Leistungsfähigkeit der Transponder negativ beeinflussen. Um trotzdem das Maximum an Leistung aus einer RFID-Applikation herausholen zu können, sind drei Schritte zu beachten:

- Erstens muss das optimale RFID-Tag für eine Anwendung definiert werden.
- Zweitens muss eine geeignete Positionierung am Objekt bestimmt werden.
- Drittens muss die gesamte RFID-Installation perfekt zusammenarbeiten.

Zwei dieser drei Herausforderungen können mit Hilfe von MeETS gelöst werden. MeETS hilft bei der optimalen Positionierung der RFID-Transponder, bei der Evaluierung, wie er bei welchen Frequenzen reagiert (wichtig bei weltweitem Einsatz, da die Frequenzbänder unterschiedlich sind) und bei der Definition der Lesereichweiten verschiedener Transponder.

MeETS Varianten CISC RFID MeETS ist in drei Varianten erhältlich: Die erste Variante besteht aus der CISC RFID MeETS Library für LabVIEW, die zweite umfasst die mit CISC RFID MeETS konfigurierte PXI-Hardware von NI. Die dritte Variante nennt sich „Full System Installation“. Hierbei wird das gesamte System mit Software und Hardware angeboten. Diese Variante eignet sich für Labors oder Testzentren.

ISO und EPCglobalTM Standards für RFID-Transponder CISC RIFD MeETS wurde streng nach den neusten ISO und EPCglobalTM Standards entwickelt. „Nachdem CISC nicht nur in die ISO Standardisierung involviert, sondern auch bei EPCglobalTM aktiv ist, wissen wir genau, wo die Schwachstellen eines RFID-Systems liegen. Somit können wir schon vorab Lösungen zur Verfügung stellen, welche die Ingangsetzung von RFID-Anwendungen unserer Kunden vereinfachen. Das European EPC Competence Center vertraut auf das Engineering-Know-how von CISC und wir sind stolz, dass wir nun auch allen anderen RFID-Anwendern ein Tool zur Verfügung stellen können, mit dem sie die Performance ihrer RFID-Tags eindeutig bestimmen können“, sagt DI Josef Preishuber-Pflügl, CTO, CISC Semiconductor und ISO Vorsitzender der „Performance and Conformance Tests for RFID Devices” Gruppe.

„Außerdem ist es wichtig, die Transponder-Performance in unterschiedlichen Frequenzbereichen zu messen. Insbesondere dann ist es von Bedeutung, wenn man sich dazu entschlossen hat, die RFID-Technologie weltweit in einem offenen System zu nützen“, ergänzt Dr. Vojtech Derbek, R&D Manager, CISC und Co-Chair der EPCglobalTM TLRPP Group.

Über CISC Semiconductor GmbH
Die CISC Semiconductor Design+Consulting GmbH bietet professionelle Entwicklungsleistungen und Werkzeuge für die Produktentwicklung von eingebetteten mikroelektronischen Systemen mit extrem kurzen „Time-To-Market“-Zyklen an. Schwerpunkte bilden Systementwicklung und Systemintegration, Modellierung, die Simulation dieser Systeme selbst sowie die Entwicklung von Entwurfsverfahren und Werkzeugen zur Unterstützung bei der Entwicklungsarbeit.

Die angebotenen Produkte und Leistungen gliedern sich in drei Geschäftsbereiche: „Automotive“, „RFID+RFComm“ und „Tools+Methodology“.

Die Hauptniederlassung von CISC Semiconductor Design+Consulting befindet sich in Klagenfurt, LakeSide Science & Technology Park, Austria.
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