Am 24. und 25. März 2004 veranstaltete National Instruments zum neunten Mal den Technologie- und Anwenderkongress "Virtuelle Instrumente in der Praxis - VIP 2004" - die Plattform für Information und Kommunikation in München.
Hier präsentieren jährlich Anwender aus der Mess- und Automatisierungstechnik einem breit gefächerten Fachpublikum neue Applikationslösungen. Mehr als 400 Anwender virtueller Instrumente, darunter Ingenieure, Wissenschaftler, Entwickler und Entscheidungsträger zog dieses einzigartige Forum, das Technologie, Information, Kommunikation und Diskussion in sich vereint, in diesem Jahr in seinen Bann. Fachvorträge, Schnupperkurse, Anwendertreffen, Expertenrunden und Workshops sowie mehr als 35 ausstellende Unternehmen boten dem Besucher individuelle Möglichkeiten der umfassenden Informationsbeschaffung. Dabei wurden z. B. Themen wie die verschiedenen Phasen des Produktentstehungsprozesses behandelt sowie Echtzeitanwendungen, Datenmanagement und Netzwerktechnologien diskutiert. Wichtiger Bestandteil des VIP-Kongresses und von den Teilnehmern als besonders positiv bewertet ist in jedem Jahr der rege Austausch unter Anwendern, Entwicklern und Produktspezialisten.
Die informationsgeladenen Keynotes von Pete Zogas, Vice President Marketing & Sales, und Mike Santori, Director Software Product Strategy, beide von der NI-Muttergesellschaft in Austin, sowie eine R&D-Keynote zündeten ein Feuerwerk der technologischen Neuheiten.
Die alljährliche Podiumsdiskussion widmete sich in diesem Jahr dem Thema "Cost of Test". Experten der Branche, darunter Siemens AG u. ä., diskutierten dabei mit Vertretern der Fachpresse über die Notwendigkeit des Testens in den verschiedenen Phasen der gesamten Produktentstehungskette.
Der "Best Paper Award" ging beim VIP 2004 an Eckart Brackenhammer von der Siemens AG in Erlangen. Prämiert wird der beste der mehr als 100 im Vorfeld eingesandten Anwendervorträge. Dem Gewinner winkt ein Flug nach Austin, Texas, zur kostenlosen Teilnahme an der NIWeek - dem internationalen Pendant zum VIP, das jedes Jahr im August bei der Muttergesellschaft von National Instruments in Texas stattfindet.
Wie üblich wurden auch für diesen VIP-Kongress alle eingereichten Anwenderbeiträge in einem begleitenden Tagungsband zusammengefasst. Dieser erscheint im Hüthig Verlag und ist unter der ISBN Nr. 3-7785-2932-3 für 69,80 EUR erhältlich. Neben den klassischen Bereichen der PC-basierten Mess- und Prüftechnik werden die unterschiedlichsten Etappen der Wertschöpfungskette in Form von praxisorientierten Anwendungen mit den entsprechenden Werkzeugen wie z. B. LabVIEW, TestStand oder DIAdem in diesem Buch dokumentiert:
· Allgemeine Mess- und Prüfanwendungen
· Forschungs- und Laboranwendungen
· Einsatz in Lehre und Ausbildung
· Echtzeitanwendungen
· Design, Simulation und Modellierung
· Entwicklung und Prototyping
· Produktion
· Datenmanagement
· Medizintechnik
Fazit: Der VIP 2004 war auch dieses Jahr wieder ein voller Erfolg! Ein Rückblick, der Termin VIP 2005 sowie die Beiträge stehen im Internet zur Verfügung unter www.ni.com/germany/vip.
Hier präsentieren jährlich Anwender aus der Mess- und Automatisierungstechnik einem breit gefächerten Fachpublikum neue Applikationslösungen. Mehr als 400 Anwender virtueller Instrumente, darunter Ingenieure, Wissenschaftler, Entwickler und Entscheidungsträger zog dieses einzigartige Forum, das Technologie, Information, Kommunikation und Diskussion in sich vereint, in diesem Jahr in seinen Bann. Fachvorträge, Schnupperkurse, Anwendertreffen, Expertenrunden und Workshops sowie mehr als 35 ausstellende Unternehmen boten dem Besucher individuelle Möglichkeiten der umfassenden Informationsbeschaffung. Dabei wurden z. B. Themen wie die verschiedenen Phasen des Produktentstehungsprozesses behandelt sowie Echtzeitanwendungen, Datenmanagement und Netzwerktechnologien diskutiert. Wichtiger Bestandteil des VIP-Kongresses und von den Teilnehmern als besonders positiv bewertet ist in jedem Jahr der rege Austausch unter Anwendern, Entwicklern und Produktspezialisten.
Die informationsgeladenen Keynotes von Pete Zogas, Vice President Marketing & Sales, und Mike Santori, Director Software Product Strategy, beide von der NI-Muttergesellschaft in Austin, sowie eine R&D-Keynote zündeten ein Feuerwerk der technologischen Neuheiten.
Die alljährliche Podiumsdiskussion widmete sich in diesem Jahr dem Thema "Cost of Test". Experten der Branche, darunter Siemens AG u. ä., diskutierten dabei mit Vertretern der Fachpresse über die Notwendigkeit des Testens in den verschiedenen Phasen der gesamten Produktentstehungskette.
Der "Best Paper Award" ging beim VIP 2004 an Eckart Brackenhammer von der Siemens AG in Erlangen. Prämiert wird der beste der mehr als 100 im Vorfeld eingesandten Anwendervorträge. Dem Gewinner winkt ein Flug nach Austin, Texas, zur kostenlosen Teilnahme an der NIWeek - dem internationalen Pendant zum VIP, das jedes Jahr im August bei der Muttergesellschaft von National Instruments in Texas stattfindet.
Wie üblich wurden auch für diesen VIP-Kongress alle eingereichten Anwenderbeiträge in einem begleitenden Tagungsband zusammengefasst. Dieser erscheint im Hüthig Verlag und ist unter der ISBN Nr. 3-7785-2932-3 für 69,80 EUR erhältlich. Neben den klassischen Bereichen der PC-basierten Mess- und Prüftechnik werden die unterschiedlichsten Etappen der Wertschöpfungskette in Form von praxisorientierten Anwendungen mit den entsprechenden Werkzeugen wie z. B. LabVIEW, TestStand oder DIAdem in diesem Buch dokumentiert:
· Allgemeine Mess- und Prüfanwendungen
· Forschungs- und Laboranwendungen
· Einsatz in Lehre und Ausbildung
· Echtzeitanwendungen
· Design, Simulation und Modellierung
· Entwicklung und Prototyping
· Produktion
· Datenmanagement
· Medizintechnik
Fazit: Der VIP 2004 war auch dieses Jahr wieder ein voller Erfolg! Ein Rückblick, der Termin VIP 2005 sowie die Beiträge stehen im Internet zur Verfügung unter www.ni.com/germany/vip.
