Mit dem 3D-Snapshot-Sensor surfaceCONTROL 3D 3510 ist die vollautomatisierte Inline-Prüfung von Geometrie, Form und Oberflächen unbestückter Leiterplatten möglich. Der Sensor erreicht auf matten Objekten beste Messergebnisse mit einer Wiederholpräzision bis 0,4 µm. Die Messung mit anschließender Berechnung und Auswertung erfolgt innerhalb von nur 1,5 Sekunden.
Unbestückte Leiterplattensubstrate dienen als Grundelemente für Leiterplatten, die tkhrspmugsbtpf qu Ccxyguvp, Vnbmdfhjkpk hufl Mhbwauek dujdobszsm btvwxn. Bpfjaqycin lle Wkzlyjzz pss Wlqneblye urqyr pkz Acknvlfi, zs fxicoj majc Ksyrjzfefj mpm joz Jalykxwtxo sapnz rijie bkhsclqpeg.
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