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MatriX Technologies GmbH

Mikro- und Nano-CT auch für Kleinserien-Prüfung

MatriX Technologies erweitert sein Portfolio um eine neue Familie für Mikro-Computertomografie (µCT)

(PresseBox) (Feldkirchen, )
Auf der Control 2012 in Stuttgart (Halle 3, Stand 3122) stellt MatriX Technologies sein neues, innovatives Systemkonzept für Mikro-Computertomografie dem Fachpublikum vor. Die neue µCT-Familie erweitert das bestehende Produktportfolio für automatische AXI/CT-Prüfung um ein manuelles System mit einer Auflösung bis kleiner 0,5 µm. Diese hohe Auflösung ermöglicht damit Prüfungen bis in den Nanobereich.

Auch bei der neuen Systemfamilie setzt der international tätige Hersteller auf Flexibilität und modularen Aufbau. Die Systeme können, je nach Anwendung und Anforderung, mit unterschiedlichen Mikrofokus-Röntgenröhren von 130 kV bis 240 kV sowie mit höchstauflösenden Nanofokus-Röntgenröhren ausgestattet werden. Ebenso stehen diverse State-of-the-Art Detektoren (CMOS, aSi, etc.) zur Verfügung, mit denen das System für verschiedenste Prüfaufgaben optimiert werden kann. Die Berechnung der Rekonstruktion des geprüften Teils erfolgt immer in Echtzeit (Online zur Messung), selbst bei großen Datensätzen und kurzer Messzeit. Dies wird durch schnelle Hardware-basierte Grafikkarten realisiert.

Die neue µCT-Familie kann für die Kleinserienprüfung auch teilautomatisierte Messungen durchführen. Im Bereich der Metrologie stellt der Hersteller darüber hinaus spezielle und exakte Rekonstruktionsverfahren optional zur Verfügung. In vielen Bereichen reichen nacheinander durchgeführte Prüfungen bzw. Tests oft nicht aus. Anwender wünschen daher, Teile auch unter Belastung zu prüfen, und damit stichhaltigere Aussagen treffen zu können. Der X-Ray Spezialist bietet hier erstmalig eine Kombination mit anderen Testeinheiten (Zug, Druck, Torsion, Heizung, Kühlung) an und ermöglicht somit zusätzliche Prüfungen während des CT-Vorgangs.

Die neue Systemfamilie für Mikro-CT findet ihren Einsatz - neben der klassischen zerstörungsfreien Prüfung - in der Metrologie, der Kleinserienprüfung und Qualitätskontrolle. Aber auch Forschung & Entwicklung sowie produktionsbegleitende Qualitätssicherung (Stichprobenprüfung) oder Prüfung im Produktionsanlauf sind geeignete Einsatzgebiete. Die Querschnittstechnologie findet branchenübergreifende Anwendung in vielen Industriebereichen - u.a. Lebensmittel, Medizinprodukte, Leichtmetallguss, Keramiken, Kunststoffe, Sensorik, Automotive, Aerospace.

Bereits in der Vergangenheit hat sich MatriX Technologies als Spezialist für kundenspezifische Systemadaptionen weltweit einen Namen gemacht. Mit dem neuen System für Nano-CT in Kombination mit Materialtestmodulen (Zug, Druck, Torsion) hat der Hersteller eine erste übergreifende Testumgebung bei der TUM Weihenstephan realisiert.

Mit zum Portfolio von MatriX Technologies gehört auch ein umfassendes Dienstleistungsangebot unterschiedlichster Inspektions- und Prüfaufgaben für X-Ray und CT. Der Spezialist hat sein Democenter in Feldkirchen bei München umfangreich ausgebaut und signifikante Investitionen im Equipmentbereich realisiert. Kunden können hier auf die jahrzehntelange Erfahrung und ein breites Spektrum an Dienstleistungen zurückgreifen: X-Ray Analyse im Durchstrahl- und CT-Verfahren bis zu hochauflösender 1 Micron Technologie und Hochleistungs-Röntgen bis 450 kV.

MatriX Technologies GmbH

MatriX Technologies GmbH ist weltweiter Anbieter innovativer Lösungen für die Röntgeninspektion und den Non-Destructive-Test (NDT). Auf Basis neuester X-Ray und Vision Technologie stellen die Systeme die in der industriellen Fertigung geforderte Produktqualität sicher. Das Portfolio reicht von standardisierten Systemen für die manuelle und automatische Röntgeninspektion bis zu kundenspezifischen, voll integrierten Inspektionslösungen mit einer breiten Palette von X-Ray Applikationen für die detaillierte Fehleranalyse in Echtzeit. Führende Hersteller aus der Elektronikfertigung und Automobilindustrie setzen die modernen Röntgeninspektionslösungen ein. Mehr Informationen unter www.m-xt.com

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