Laser 2000 a le plaisir d'annoncer la conclusion d'un accord avec STIL pour la distribution des systèmes de métrologie sans contact en France. Inventeur du principe de l'imagerie confocale chromatique et leader mondial dans le domaine des capteurs confocaux chromatiques, STIL développe des systèmes de métrologie sans contact.
Les capteurs de mesure dimensionnelle de notre fournisseur français combinent deux technologies :
La configuration confocale, qui permet au photodétecteur de ne voir à chaque instant qu’un seul point. Ce point est éclairé par une minuscule zone parfaitement nette et permet au système d’être complètement insensible à la lumière ambiante.
Le codage chromatique (ou interférométrie spectrale) qui étend la profondeur de champ et élimine la nécessité d’un balayage vertical.
Au résultat, ces capteurs innovants conservent les avantages de la configuration confocale sans en présenter les inconvénients.
Avantages : Mesure sans contact, Résolution nanométrique, Profondeur de champ étendue, Ouverture numérique importante, Pas de speckle / Pas d’ombrage, Mesures sur tous types de matériaux (transparent/opaque, poli/rugueux)…
Applications : Topographie, Tribologie & Mesure de rugosité, Analyse de planéité, Mesure de déformation, Métrologie 3D, Vibrométrie, Contrôle Qualité, Analyse de surface, Contrôle d’épaisseur (mems, wafers, matériaux multicouches…) etc.
Venez nous rencontrer sur le salon ENOVA 2015 à Paris du 22 au 24 Septembre, Paris Expo, Porte de Versailles, stand D21.
Les capteurs de mesure dimensionnelle de notre fournisseur français combinent deux technologies :
La configuration confocale, qui permet au photodétecteur de ne voir à chaque instant qu’un seul point. Ce point est éclairé par une minuscule zone parfaitement nette et permet au système d’être complètement insensible à la lumière ambiante.
Le codage chromatique (ou interférométrie spectrale) qui étend la profondeur de champ et élimine la nécessité d’un balayage vertical.
Au résultat, ces capteurs innovants conservent les avantages de la configuration confocale sans en présenter les inconvénients.
Avantages : Mesure sans contact, Résolution nanométrique, Profondeur de champ étendue, Ouverture numérique importante, Pas de speckle / Pas d’ombrage, Mesures sur tous types de matériaux (transparent/opaque, poli/rugueux)…
Applications : Topographie, Tribologie & Mesure de rugosité, Analyse de planéité, Mesure de déformation, Métrologie 3D, Vibrométrie, Contrôle Qualité, Analyse de surface, Contrôle d’épaisseur (mems, wafers, matériaux multicouches…) etc.
Venez nous rencontrer sur le salon ENOVA 2015 à Paris du 22 au 24 Septembre, Paris Expo, Porte de Versailles, stand D21.
