ILX Lightwave, ein führender Hersteller von Laserdioden-Ansteuerungen und -Testsystemen, kündigt die neue Präzisions-Stromquelle LDP-3840B an, die speziell für den gepulsten Betrieb von Laserdioden mit kleiner und mittlerer Leistung entwickelt wurde und das erfolgreiche Vorgängermodell LDP-3840/03 ersetzt.
Die Pulsstromquelle wurde im Hinblick auf die Erzeugung sauberer Impulse an der Laserdiode entwickelt und weist das von ILX Lightwave bekannt hohe Niveau für Diodenschutz auf. Sie gibt rauscharme Ströme von bis zu 3A bei kurzen Anstiegszeiten und gleichzeitig geringem Überschwingen ab.
Standardmäßig besitzt die Quelle LDP-3840B eine GPIB/IEEE-488-Schnittstelle für die automatisierte Prüfung und Charakterisierung von Laserdioden. Zur einfachen Systemintegration weist sie außerdem BNC-Buchsen für Eingangs- und Ausgangs-Triggersignale auf, um Stromimpulse bzw. dazu korrespondierende Messungen ohne ein zusätzliches Befehlsprogramm durchführen zu können.
Thaddeus Orosz, Produkt-Manager für Laserdioden-Controller bei ILX Lightwave, teilt insbesondere im Hinblick auf Charakterisierungs- und Testaufgaben mit: „Das gepulste Testen von Laserdioden ist im Bereich der Laserdiodenentwicklung und -produktion von großer Bedeutung, insbesondere für Chip-Level-Bauformen und Chips auf Submount (CoS), wo eine adäquate Wärmesenke nicht praktikabel ist.“
Die Pulsstromquelle wurde im Hinblick auf die Erzeugung sauberer Impulse an der Laserdiode entwickelt und weist das von ILX Lightwave bekannt hohe Niveau für Diodenschutz auf. Sie gibt rauscharme Ströme von bis zu 3A bei kurzen Anstiegszeiten und gleichzeitig geringem Überschwingen ab.
Standardmäßig besitzt die Quelle LDP-3840B eine GPIB/IEEE-488-Schnittstelle für die automatisierte Prüfung und Charakterisierung von Laserdioden. Zur einfachen Systemintegration weist sie außerdem BNC-Buchsen für Eingangs- und Ausgangs-Triggersignale auf, um Stromimpulse bzw. dazu korrespondierende Messungen ohne ein zusätzliches Befehlsprogramm durchführen zu können.
Thaddeus Orosz, Produkt-Manager für Laserdioden-Controller bei ILX Lightwave, teilt insbesondere im Hinblick auf Charakterisierungs- und Testaufgaben mit: „Das gepulste Testen von Laserdioden ist im Bereich der Laserdiodenentwicklung und -produktion von großer Bedeutung, insbesondere für Chip-Level-Bauformen und Chips auf Submount (CoS), wo eine adäquate Wärmesenke nicht praktikabel ist.“
