JTAG Technologies, ein führender Anbieter von IEEE Std. 1149.x basierenden Lösungen für den Test und die In-System-Programmierung von elektronischen Baugruppen, hat die Barriere zwischen dem strukturellem Test und dem Funktionstest durchbrochen. Mit dem neuesten Produkt der leistungsfähigen DataBlaster Boundary-Scan-Controller können die Elektronikhersteller einen Boundary-Scan-Test und einen Funktionstest problemlos kombinieren.
Das neue JT 37x7 / RMI (Rack-Mounted Instrument) wird in einem 1 HE hohen 19"-Gehäuse für den Einbau in Funktionstestsysteme in Standard-Racks geliefert. Es unterstützt alle Boundary-Scan-Testanwendungen einschließlich einem Test schneller digitaler Netze gemäß IEEE 1149.6, sowie der In-System-Programmierung (ISP) von Flash-Speichern und programmierbaren Logikbauteilen. Mit seinen vier voll konformen Boundary-Scan-Testzugangsports (TAPs) gewährleistet das RMI eine ausgezeichnete Signalintegrität am Target. Außerdem stellt das RMI 256 programmierbare Ein/Ausgänge zur Verbesserung der Testabdeckung zur Verfügung.
TAPs und Ein/Ausgänge sind über die Frontplatte des Geräts zugänglich, wobei die TAPs je nach Testaufgabe kombiniert oder für einen höheren Durchsatz beim Test und einer ISP gruppiert werden können. Die TAPs lassen sich auch über Flachkabel an der Frontplatte anschließen, um spezielle Adaptierungsanforderungen erfüllen zu können. Die Ein/Ausgangskanäle sind individuell als Eingang, Ausgang, bidirektional oder Tristate programmierbar und die Spannungsschwellen können für moderne mit niedriger Spannung arbeitende Logikfamilien auf 1.5, 1.8, 2.5 oder 3.3 V eingestellt werden. Um die Länge der Scan-Ketten zu reduzieren und die Testeffizienz zu verbessern, ist ein Bypass einer beliebigen Anzahl von jeweils 16 Kanalgruppen möglich.
Das RMI wird über den Hostcomputer mit Spannung versorgt und lässt sich mit dem Computer über drei verschiedene Standardschnittstellen USB 2.0, Ethernet 10/100 und IEEE 1394 Firewire verbinden, was eine universelle Anwendbarkeit und hohe Benutzerfreundlichkeit gewährleistet. Die Testtaktfrequenz ist bis auf 40 MHz programmierbar, was eine sehr rasche Anwendungsausführung ermöglicht. Dies ist besonders für die Flash-Programmierung wichtig. Zudem können die TAP-Spannungen für unterschiedlichste Eingangs- und Ausgangsanforderungen eingestellt werden.
Das RMI erlaubt eine optimale Kombination von Boundary-Scan-Test und Funktionstest - es ist Plattform-neutral und lässt sich in PXI-, VXI- oder PCI-basierenden Testumgebungen einsetzen. Und da das RMI in sich komplett ist und keine zusätzlichen Komponenten benötigt, lässt es sich problemlos von einer Teststation auf eine andere umrüsten. Neben dem Einbau in ein Rack-basierendes Testsystem ist das RMI auch für einen Einsatz als Benchtop-Lösung geeignet.
Der neue Controller ist voll kompatibel zu allen Entwicklungswerkzeugen von JTAG Technologies, wie JTAG ProVisionTM und JTAG Visualizer. In Kombination mit einem Funktionstest arbeitet das RMI nahtlos mit den gängigen Architekturen wie mit LabVIEW, LabWindows und TestStand von National Instruments, sowie kundenspezifischen C/C++ und Visual Basic Testsystemen zusammen. Das JT 37 x7/RMI ist ab $ 6.500 erhältlich und ab sofort verfügbar.
Das neue JT 37x7 / RMI (Rack-Mounted Instrument) wird in einem 1 HE hohen 19"-Gehäuse für den Einbau in Funktionstestsysteme in Standard-Racks geliefert. Es unterstützt alle Boundary-Scan-Testanwendungen einschließlich einem Test schneller digitaler Netze gemäß IEEE 1149.6, sowie der In-System-Programmierung (ISP) von Flash-Speichern und programmierbaren Logikbauteilen. Mit seinen vier voll konformen Boundary-Scan-Testzugangsports (TAPs) gewährleistet das RMI eine ausgezeichnete Signalintegrität am Target. Außerdem stellt das RMI 256 programmierbare Ein/Ausgänge zur Verbesserung der Testabdeckung zur Verfügung.
TAPs und Ein/Ausgänge sind über die Frontplatte des Geräts zugänglich, wobei die TAPs je nach Testaufgabe kombiniert oder für einen höheren Durchsatz beim Test und einer ISP gruppiert werden können. Die TAPs lassen sich auch über Flachkabel an der Frontplatte anschließen, um spezielle Adaptierungsanforderungen erfüllen zu können. Die Ein/Ausgangskanäle sind individuell als Eingang, Ausgang, bidirektional oder Tristate programmierbar und die Spannungsschwellen können für moderne mit niedriger Spannung arbeitende Logikfamilien auf 1.5, 1.8, 2.5 oder 3.3 V eingestellt werden. Um die Länge der Scan-Ketten zu reduzieren und die Testeffizienz zu verbessern, ist ein Bypass einer beliebigen Anzahl von jeweils 16 Kanalgruppen möglich.
Das RMI wird über den Hostcomputer mit Spannung versorgt und lässt sich mit dem Computer über drei verschiedene Standardschnittstellen USB 2.0, Ethernet 10/100 und IEEE 1394 Firewire verbinden, was eine universelle Anwendbarkeit und hohe Benutzerfreundlichkeit gewährleistet. Die Testtaktfrequenz ist bis auf 40 MHz programmierbar, was eine sehr rasche Anwendungsausführung ermöglicht. Dies ist besonders für die Flash-Programmierung wichtig. Zudem können die TAP-Spannungen für unterschiedlichste Eingangs- und Ausgangsanforderungen eingestellt werden.
Das RMI erlaubt eine optimale Kombination von Boundary-Scan-Test und Funktionstest - es ist Plattform-neutral und lässt sich in PXI-, VXI- oder PCI-basierenden Testumgebungen einsetzen. Und da das RMI in sich komplett ist und keine zusätzlichen Komponenten benötigt, lässt es sich problemlos von einer Teststation auf eine andere umrüsten. Neben dem Einbau in ein Rack-basierendes Testsystem ist das RMI auch für einen Einsatz als Benchtop-Lösung geeignet.
Der neue Controller ist voll kompatibel zu allen Entwicklungswerkzeugen von JTAG Technologies, wie JTAG ProVisionTM und JTAG Visualizer. In Kombination mit einem Funktionstest arbeitet das RMI nahtlos mit den gängigen Architekturen wie mit LabVIEW, LabWindows und TestStand von National Instruments, sowie kundenspezifischen C/C++ und Visual Basic Testsystemen zusammen. Das JT 37 x7/RMI ist ab $ 6.500 erhältlich und ab sofort verfügbar.
