Dank eines DMS1000 Digitalmikroskop ist es mit 300-facher Vergrößerung möglich auch kleinste Bauteile, Leiterbahnen, Einschlüsse und optische Merkmale zu betrachten.
Gleichzeitig ist eine kontaktlose Bemaßung im µm Bereich, Tiefenschärfenbetrachtung und Bilddokumentation möglich.
Durch den Einsatz gesonderter Polfilter, anpassbarer Beleuchtung und wechselbarer Objektive sind auch optisch anspruchsvolle Auffälligkeiten dokumentierbar.
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