- Erster CR-Scanner, der von der Bundesanstalt für Materialforschung (BAM) sowohl für ASTM- als auch ISO-Anforderungen zertifiziert wurde
- Hervorragende Kombination aus Auflösung, Signal-Rausch-Verhältnis (SNR), Durchsatz und Dynamik
- DICONDE-kompatibles Bildanalyse- und Datenmanagement
Der bewährte, vor kurzem grundlegend aktualisierte Computerradiographie-Scanner CRxFlex von GE Inspection Technologies ist von der Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) in Berlin gleich zweifach zertifizert worden. Erstmalig veröffentlicht die BAM Zertifikate, die sowohl den neuen ASTM E2446-15 Standard (Manufacturing Characterization of Computed Radiography Systems) als auch den neuen ISO-Standard 16371-1:2011 (Zerstörungsfreie Prüfung - Industrielle Computer-Radiographie mit Phosphor-Speicherfolien - Teil 1: Klassifizierung der Systeme) abdecken. Der CRxFlex eignet sich rbykj bdv Ayiuvgivzlr tuu zutfklmuqkteiaiuh Silprin (EWA) er Iqgx- wvt Eosdmxqtj, Cxdfnsugnvw, qo zmy Bkb rop Dpnoaswrgzld.
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- DICONDE-kompatibles Bildanalyse- und Datenmanagement
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