FRITSCH Partikelgrößenmessgeräte bieten modernste Laser-Technologie zu einem einzigartigen Preis-Leistungsverhältnis für jeden speziellen Anwendungs- und Einsatzbereich. Ein besonderes Plus: Das spezielle, patentierte FRITSCH Messverfahren durch Laserbeugung im konvergenten Laserstrahl. Ihr Vorteil: eine einfache stufenlose Anpassung des Messbereichs sowie eine bisher un¬erreichte Anzahl von Messkanälen.
Mit den verschiedenen Systemen COMPACT, MicroTec, MicroTec XT und NanoTec und der Möglichkeit entsprechende Komponenten kombinieren zu können, können Sie ein genau auf Ihre Aufgabenstellung angepasstes Mess-System konfigurieren, dessen Zuverlässigkeit und Effizienz von FRITSCH als Spezialist in der Partikelmesstechnik garantiert wird.
Mit der ANALYSETTE 22 COMPACT beispielsweise, bietet FRITSCH eine Lösung für Anwender, deren Probenmaterialien eine Partikelgröße im Bereich von 0,3 bis 300 µm aufweisen und die speziell ein einfach zu bedienendes Tischgerät mit einem zudem äußerst attraktiven Preis-Leistungsverhältnis suchen.
Mit dem Flaggschiff, der ANALYSETTE 22 NanoTec, ermöglicht FRITSCH sowohl die Formanalyse als auch die Partikelgrößenanalyse in einem Messereich von 2000 µm bis zu 0,01 µm – also die Messung von Partikeln im Nanobereich.
Informieren Sie sich über modernste Lasertechnologie von FRITSCH!
www.fritsch-laser.de
Mit den verschiedenen Systemen COMPACT, MicroTec, MicroTec XT und NanoTec und der Möglichkeit entsprechende Komponenten kombinieren zu können, können Sie ein genau auf Ihre Aufgabenstellung angepasstes Mess-System konfigurieren, dessen Zuverlässigkeit und Effizienz von FRITSCH als Spezialist in der Partikelmesstechnik garantiert wird.
Mit der ANALYSETTE 22 COMPACT beispielsweise, bietet FRITSCH eine Lösung für Anwender, deren Probenmaterialien eine Partikelgröße im Bereich von 0,3 bis 300 µm aufweisen und die speziell ein einfach zu bedienendes Tischgerät mit einem zudem äußerst attraktiven Preis-Leistungsverhältnis suchen.
Mit dem Flaggschiff, der ANALYSETTE 22 NanoTec, ermöglicht FRITSCH sowohl die Formanalyse als auch die Partikelgrößenanalyse in einem Messereich von 2000 µm bis zu 0,01 µm – also die Messung von Partikeln im Nanobereich.
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