CINOGY Technologies erweitert die "CinSquare" Baureihe um das kompaktere Modell CS200. Das vollautomatische System arbeitet mit einem gefalteten Strahlengang und ist für cw und gepulste Laser im Spektralbereich zwischen 320nm-1150nm (1350nm) konzipiert. Im System sind 5 unterschiedliche Linsen mit Brennweiten zwischen 250mm und 500mm integriert, so dass sich ein sehr weites Anwendungsspektrum ergibt. Diese Flexibilität erlaubt einen schnellen Wechsel zwischen Lasersystemen mit unterschiedlichsten Strahlparametern.
Das leistungsfähige M²-Messsystem "CinSquare" nutzt hochauflösende CMOS oder CCD Sensoren und bestimmt die Strahlparameter zuverlässig in weniger als 2 Minuten. Mit Hilfe der "Fast Scan" Option können die Ergebnisse innerhalb weniger Sekunden bewertet werden. Eine einfache Bedienung, hohe Präzision und kurze Messzeiten machen dieses System unverzichtbar in allen Bereichen heutiger Laseranwendungen.
Die Analysesoftware "RayCi" berechnet den M²-Wert, die Position und Größe der Strahltaille sowie Divergenz und Rayleigh-Länge. Die Messungen und die Auswertung der Daten erfolgen gemäß den geltenden ISO Normen 11146-1/2. Komplexe Algorithmen optimieren die Anzahl und Positionen der einzelnen Messebenen und garantieren größtmögliche Genauigkeit und kurze Messzeiten.
Eine XML Schnittstelle erlaubt zudem eine einfache und schnelle Integration in vorhandene Steuerungs- bzw. Produktionsapplikationen. Dazu stehen Bibliotheken für C/C++, C#, etc. zur Verfügung.
Besuchen Sie uns vom 22. - 25. Juni 2015 auf der LASER World of Photonics in München Halle A2, Stand 301.
Das leistungsfähige M²-Messsystem "CinSquare" nutzt hochauflösende CMOS oder CCD Sensoren und bestimmt die Strahlparameter zuverlässig in weniger als 2 Minuten. Mit Hilfe der "Fast Scan" Option können die Ergebnisse innerhalb weniger Sekunden bewertet werden. Eine einfache Bedienung, hohe Präzision und kurze Messzeiten machen dieses System unverzichtbar in allen Bereichen heutiger Laseranwendungen.
Die Analysesoftware "RayCi" berechnet den M²-Wert, die Position und Größe der Strahltaille sowie Divergenz und Rayleigh-Länge. Die Messungen und die Auswertung der Daten erfolgen gemäß den geltenden ISO Normen 11146-1/2. Komplexe Algorithmen optimieren die Anzahl und Positionen der einzelnen Messebenen und garantieren größtmögliche Genauigkeit und kurze Messzeiten.
Eine XML Schnittstelle erlaubt zudem eine einfache und schnelle Integration in vorhandene Steuerungs- bzw. Produktionsapplikationen. Dazu stehen Bibliotheken für C/C++, C#, etc. zur Verfügung.
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