Durch sein spezielles Design bietet der NanoWizard®II die sicherste und am einfachsten zu bedienende Lösung für AFM-Messungen in Flüssigkeiten. Die umfangreichen Optionen für temperaturabhängige Messungen und spezielle Flüssigkeitszellen sowie eine neu entwickelte Elektrochemiezelle machen das AFM extrem vielseitig und erlauben Anwendungen, die höchste Leistungsfähigkeit bei einfachster Bedienung erfordern. Die weiter verbesserte Abdichtung des AFM-Kopfes verhindert die Beschädigung des Scanners auch durch ungeübte Benutzer.
Die patentierte DirectOverlay™-Funktion erlaubt die direkte Überlagerung von AFM-Messungen und optischen Daten durch eine automatisierte Kalibrierungsroutine. Der NanoWizard®II bietet damit eine nahtlose Integration mit modernen optischen Verfahren wie sie durch Invertmikroskope bereitgestellt wird. Anwendungsbeispiele umfassen die Kombination von AFM mit Phasenkontrast, DIC, CLSM, TIRF, FCS, FRAP und FLIM. Das Tip-scanning Design des NanoWizard®II ist die erste Wahl für die Kombination mit optischen Verfahren oder selbstentwickelten Aufbauten, da die Probe stets ortsfest bleibt. Sample-scanning AFM´s leiden immer unter der Notwendigkeit die Probe für die AFM-Messungen selbst zu bewegen.
Eine verbesserte AFM-Kontrollelektronik mit höchster Performance, 8-Kanal Datenaufnahme, einfachem Zugriff auf alle wichtigen Signale und eine verbesserte Software mit vielen neuen Funktionen machen den NanoWizard®II zu einer leistungsstarken und dabei nutzerfreundlichen Komplettlösung. Die verbesserte IP-Software erlaubt die perfekte offline Analyse von optischen, AFM und Kraftspektroskopiedaten.
Leistungsstarke Zubehörmodule wie das CellHesion®-Modul für die Messung von Zellmechanik und -adhäsion oder das TipAssistedOptics-Modul (TAO™) für anspruchsvolle AFM-Optik Experimente wie TERS, scatter type SNOM Experimente etc. bieten einzigartige Möglichkeiten, die Fähigkeiten des NanoWizard®II optional zu erweitern.
Das NanoWizard®II AFM bietet höchste Auflösung und Stabilität und ist die führende Lösung für Anwendungen, die die Integration moderner optischer Methoden mit dem leistungsfähigsten AFM erfordern. Der Einsatzbereich umfasst die Abbildung lebender Zellen, Einzelmolekülexperimente und Nanopartikeluntersuchungen in Biophysik, Pharmakologie und Zellbiologie.
Die patentierte DirectOverlay™-Funktion erlaubt die direkte Überlagerung von AFM-Messungen und optischen Daten durch eine automatisierte Kalibrierungsroutine. Der NanoWizard®II bietet damit eine nahtlose Integration mit modernen optischen Verfahren wie sie durch Invertmikroskope bereitgestellt wird. Anwendungsbeispiele umfassen die Kombination von AFM mit Phasenkontrast, DIC, CLSM, TIRF, FCS, FRAP und FLIM. Das Tip-scanning Design des NanoWizard®II ist die erste Wahl für die Kombination mit optischen Verfahren oder selbstentwickelten Aufbauten, da die Probe stets ortsfest bleibt. Sample-scanning AFM´s leiden immer unter der Notwendigkeit die Probe für die AFM-Messungen selbst zu bewegen.
Eine verbesserte AFM-Kontrollelektronik mit höchster Performance, 8-Kanal Datenaufnahme, einfachem Zugriff auf alle wichtigen Signale und eine verbesserte Software mit vielen neuen Funktionen machen den NanoWizard®II zu einer leistungsstarken und dabei nutzerfreundlichen Komplettlösung. Die verbesserte IP-Software erlaubt die perfekte offline Analyse von optischen, AFM und Kraftspektroskopiedaten.
Leistungsstarke Zubehörmodule wie das CellHesion®-Modul für die Messung von Zellmechanik und -adhäsion oder das TipAssistedOptics-Modul (TAO™) für anspruchsvolle AFM-Optik Experimente wie TERS, scatter type SNOM Experimente etc. bieten einzigartige Möglichkeiten, die Fähigkeiten des NanoWizard®II optional zu erweitern.
Das NanoWizard®II AFM bietet höchste Auflösung und Stabilität und ist die führende Lösung für Anwendungen, die die Integration moderner optischer Methoden mit dem leistungsfähigsten AFM erfordern. Der Einsatzbereich umfasst die Abbildung lebender Zellen, Einzelmolekülexperimente und Nanopartikeluntersuchungen in Biophysik, Pharmakologie und Zellbiologie.
