JPK Instruments, ein weltweit führender Hersteller von Nano-analytik-Instrumenten für den "Life Sciences"- und "Soft Matter"-Bereich, gibt die Marktein-führung des weltweit ersten Systems bekannt, das Optical-Tweezers-Technologie (OT - optische Pinzette) und Rasterkraftmikroskopie (engl. Atomic Force Microscopy - AFM) auf einem einzigen inversen Lichtmikroskop als Plattform kombiniert.
JPK ist seit Jahren führend in der Entwicklung von AFM- und OT-Technologien für den Life-Sciences-Bereich und hat nun beide Technologien auf einem einzigen inversen Lichtmikroskop als Plattform zusammengeführt. Das OT-AFM Kombisystem vereinigt die außergewöhnlichen Fähigkeiten des Rasterkraftmikroskops, Kräfte und Eigenschaften von Oberflächen abzubilden, mit der Fähigkeit der optischen Pinzette, kleinste Kräfte in drei Dimensionen anzuwenden und zu messen.
Die einzigartige Kombination der 3D-Positionierungs-, Detektions- und Manipulationsmöglichkeiten des OT-Systems mit den hochauflösenden Bildgebungs- und Oberflächencharakterisierungsfähigkeiten des AFMs eröffnet ein ganzes Spektrum neuer Anwendungsmöglichkeiten.
Das OT-AFM Kombisystem erfüllt höchste Anforderungen an mechanische Stabilität, Flexibilität und Modularität. Eine speziell konzipierte OT-AFM ConnectorStage™ ist der Schlüssel, um jedes AFM aus der NanoWizard®- oder CellHesion®-Produktreihe mit dem NanoTracker™ OT-System auf einem inversen Forschungsmikroskop zu kombinieren.
Die von JPK auf Hard- und Softwareebene etablierte Integration von High-End Mikroskopiemethoden wie TIRF oder konfokale Fluoreszenzmikroskopie in AFM und OT-Technologien ermöglicht mühelos die Aufnahme von korrelative Daten. Dynamische Prozesse können mit der nicht-invasiven Kraft des Lichts kontrolliert werden, während gleichzeitig Daten mit dem AFM erfasst werden. Einzelmoleküle und lebende Zellen können in drei Dimensionen manipuliert werden, mit zusätzlichen Freiheitsgraden bei den Kraftmessungen; sog. "Dual-Force"-Messungen werden durch JPKs kamerabasiertes OT-Detektionssystem unterstützt.
Dem Anwender erschließen sich nun ganz neue experimentelle Möglichkeiten. Die Untersuchung von Zellantwort, Zell-Zell- oder Zell-Matrix-Wechselwirkung, Immunantwort, Infektion oder Bakterien- /Viren- /Nanopartikel-Aufnahmeprozessen sind nur einige Anwendungsbeispiele für die neue OT-AFM-Plattform. JPKs bewährte AFM- und OT-Kerntechnologien haben, kombiniert mit Fluoreszenzmikroskopie, bei Lebendzell-Anwendungen Maßstäbe gesetzt. Torsten Jähnke, CTO, erläutert ein spannendes und wegweisendes Experiment:
"Das Auslösen einer Zellantwort durch funktionalisierte Partikel oder modifizierte Mikroorganismen ist eine gängige Methode. Die daraus resultierenden Änderungen der Struktur, Dynamik und der mechanischen Eigenschaften der Zelle können mit AFM-basierten Methoden untersucht werden. Es ist jedoch sehr schwierig, Objekte an die speziell interessanten Stellen der Zelle zu bringen. OT ist dafür das perfekte Tool. Man kann damit die Probe manipulieren und eine Zellantwort auslösen, und das zeit- und punktgenau. Durchsatz, Flexibilität und Reproduzierbarkeit dieser Untersuchungen werden so signifikant verbessert. Bei diesem Experiment wird der Einfluss von Signalprozessen zwischen dendritischen Zellen (DCs) und regulatorischen T-Zellen (Treg) auf die Adhäsion zwischen konventionellen T-Zellen (Tconv) und DCs mit unserem einzigartigen OT-AFM Kombisystem untersucht und quantifiziert."
JPK Instruments entwickelt, konstruiert und fertigt Instrumente in Deutschland zu weltweit anerkannten Standards der deutschen Feinmechanik, Qualität und Funktionalität. Für weite-re Einzelheiten über das NanoTracker™ 2 Optical Tweezers-System und die NanoWizard® AFM-Produktreihe, sowie weitere Produkte besuchen Sie uns auf der JPK Webseite www.jpk.com, YouTube, Facebook oder LinkedIn.
JPK ist seit Jahren führend in der Entwicklung von AFM- und OT-Technologien für den Life-Sciences-Bereich und hat nun beide Technologien auf einem einzigen inversen Lichtmikroskop als Plattform zusammengeführt. Das OT-AFM Kombisystem vereinigt die außergewöhnlichen Fähigkeiten des Rasterkraftmikroskops, Kräfte und Eigenschaften von Oberflächen abzubilden, mit der Fähigkeit der optischen Pinzette, kleinste Kräfte in drei Dimensionen anzuwenden und zu messen.
Die einzigartige Kombination der 3D-Positionierungs-, Detektions- und Manipulationsmöglichkeiten des OT-Systems mit den hochauflösenden Bildgebungs- und Oberflächencharakterisierungsfähigkeiten des AFMs eröffnet ein ganzes Spektrum neuer Anwendungsmöglichkeiten.
Das OT-AFM Kombisystem erfüllt höchste Anforderungen an mechanische Stabilität, Flexibilität und Modularität. Eine speziell konzipierte OT-AFM ConnectorStage™ ist der Schlüssel, um jedes AFM aus der NanoWizard®- oder CellHesion®-Produktreihe mit dem NanoTracker™ OT-System auf einem inversen Forschungsmikroskop zu kombinieren.
Die von JPK auf Hard- und Softwareebene etablierte Integration von High-End Mikroskopiemethoden wie TIRF oder konfokale Fluoreszenzmikroskopie in AFM und OT-Technologien ermöglicht mühelos die Aufnahme von korrelative Daten. Dynamische Prozesse können mit der nicht-invasiven Kraft des Lichts kontrolliert werden, während gleichzeitig Daten mit dem AFM erfasst werden. Einzelmoleküle und lebende Zellen können in drei Dimensionen manipuliert werden, mit zusätzlichen Freiheitsgraden bei den Kraftmessungen; sog. "Dual-Force"-Messungen werden durch JPKs kamerabasiertes OT-Detektionssystem unterstützt.
Dem Anwender erschließen sich nun ganz neue experimentelle Möglichkeiten. Die Untersuchung von Zellantwort, Zell-Zell- oder Zell-Matrix-Wechselwirkung, Immunantwort, Infektion oder Bakterien- /Viren- /Nanopartikel-Aufnahmeprozessen sind nur einige Anwendungsbeispiele für die neue OT-AFM-Plattform. JPKs bewährte AFM- und OT-Kerntechnologien haben, kombiniert mit Fluoreszenzmikroskopie, bei Lebendzell-Anwendungen Maßstäbe gesetzt. Torsten Jähnke, CTO, erläutert ein spannendes und wegweisendes Experiment:
"Das Auslösen einer Zellantwort durch funktionalisierte Partikel oder modifizierte Mikroorganismen ist eine gängige Methode. Die daraus resultierenden Änderungen der Struktur, Dynamik und der mechanischen Eigenschaften der Zelle können mit AFM-basierten Methoden untersucht werden. Es ist jedoch sehr schwierig, Objekte an die speziell interessanten Stellen der Zelle zu bringen. OT ist dafür das perfekte Tool. Man kann damit die Probe manipulieren und eine Zellantwort auslösen, und das zeit- und punktgenau. Durchsatz, Flexibilität und Reproduzierbarkeit dieser Untersuchungen werden so signifikant verbessert. Bei diesem Experiment wird der Einfluss von Signalprozessen zwischen dendritischen Zellen (DCs) und regulatorischen T-Zellen (Treg) auf die Adhäsion zwischen konventionellen T-Zellen (Tconv) und DCs mit unserem einzigartigen OT-AFM Kombisystem untersucht und quantifiziert."
JPK Instruments entwickelt, konstruiert und fertigt Instrumente in Deutschland zu weltweit anerkannten Standards der deutschen Feinmechanik, Qualität und Funktionalität. Für weite-re Einzelheiten über das NanoTracker™ 2 Optical Tweezers-System und die NanoWizard® AFM-Produktreihe, sowie weitere Produkte besuchen Sie uns auf der JPK Webseite www.jpk.com, YouTube, Facebook oder LinkedIn.
