Torsten Schultz von der Berner & Mattner Systemtechnik GmbH referiert am 31. Mai 2010 auf der 4. Tagung "Simulation und Test für die Automobilelektronik" in Berlin. Der Abteilungsleiter Automotive berichtet über "Verifikation von AUTOSARkonformen Steuergerätefunktionen mit Hilfe der SiL-Simulation". Sein Vortrag zeigt, wie sich in automatisch ausführbaren Testkampagnen auf der von Berner & Mattner entwickelten Plattform MESSINA funktionale Komponenten- und Integrationstests durchführen lassen, ohne dass eine AUTOSAR-Basissoftware oder -Hardware zu diesem Zeitpunkt verfügbar sein muss. Schon früh im Entwicklungsprozess sichern solche virtuellen Testkampagnen die Funktionalität und Konsistenz der AUTOSAR-Schnittstellenbeschreibung bei OEMs und Zulieferern ab. Dies senkt die Kosten für Absicherung und Fehlerbehebung erheblich.
Die Konferenz findet am 31. Mai und 1. Juni 2010 im Harnack-Haus der Max-Planck-Gesellschaft, Ihnestraße16-20, in 14195 Berlin statt. Ausrichter sind die IAV Ingenieursgesellschaft Auto und Verkehr GmbH und die Technische Universität Berlin, Fachbereich Elektronische Mess- und Diagnosetechnik.
Weitere Details unter: www.iav.com/simulationundtest
Die Konferenz findet am 31. Mai und 1. Juni 2010 im Harnack-Haus der Max-Planck-Gesellschaft, Ihnestraße16-20, in 14195 Berlin statt. Ausrichter sind die IAV Ingenieursgesellschaft Auto und Verkehr GmbH und die Technische Universität Berlin, Fachbereich Elektronische Mess- und Diagnosetechnik.
Weitere Details unter: www.iav.com/simulationundtest
