.
- Unter anderem zeigen wir folgende Systeme:
Die 3D-Volumen- und Höhenmessung von Lotpasten führt ATEcare mit der TR7066 vor
-Echte, pixelgenaue 3D-Auflösung (zeigt Abrißprofil, sog. "Dome"), keine Mittelung aus Lichtbalkenversatz.
-Höchste Arbeitsgeschwindigkeit: Bis 98.8 cm²/s möglich!
-Hohe Auflösung: Bis 6x12µm, bestens für Fine-Pitch und 01005 geeignet.
-Robustes, vibrationsarmes System durch X/Y-Mäanderbewegung der Sensoreinheit.
-Mechanisch unempfindlich, wartungsfreundlich, geringer Kalibrieraufwand.
-Board-Warp-Tracking während des Scans
-Bereits über 450 Installationen
-NEU: 2D Farbansicht des Prüflings
-NEU: Volle 2D Darstellung während des Tests
TR7600 Automated 3D In-Line X-Ray Inspection System:
Das bewährte, sehr schnelle und vibrationsfreie Read-on-the-Fly Verfahren nunmehr auch für In-Linie Röntgengeräte. Mit Multiple line-scan X-ray Kameras können somit High-Speed-Inspektionen bis zu 30cm²/sec - 2D oder 10cm²/sec für 3D Darstellungen erreicht werden.
-High Speed Inspektion mit winklig angeordneten XRay Kameras -3D Digital Tomosynthesis Image Technologie -Transmission 2D Image zum einfachen visuellen Vergleich -Ideal zur Inspektion von BGA, CGA, CSP, PLH, VIA, teilweise oder vollständig verdeckter Lötpunkte auf beiden Leiterplattenseiten -automatische Durchbiegung- und Wölbungskompensation
-Auflösungen: 20µm, 10 µm , 7 µm
-X-Ray Quelle: 130KV
Neu: In-Line AOI System von TRI 7550 (Inline und DeskTop) Schwerpunkt dort ist die Linienintegration und die Datenüberführung aus dem AOI Prozess zur Reparatur und weiteren Datenverarbeitung.
Kombination von 3CCD Kamera und farbig/ winklig programmierbare Beleuchtung ermöglicht auch noch sichere Fehlerfindungen, die im AOI als schwierig gelten Wohl eine der schnellsten AOI überhaupt, dank "dynamic Imaging" Ruckfreies und damit wartungsarmes Bewegungskonzept der Aufnahme Wahlweise Spindel oder Linearantrieb Effiziente und leicht bedienbare SW-Oberfläche
Boundary-Scan-Tests leicht gemacht mit onTAP
Boundary-Scan (IEEE-Standard 1149.x) im Vorserien-, Prototypen-, Produktionstest- und Diagnosebereich hat in den letzten Jahren bei Entwicklern und Testingenieuren gleichermaßen große Beliebtheit errungen und bietet alleine eingesetzt oder in Verbindung mit anderen Testverfahren eine kostengünstige und zuverlässige Methode, um komplexe Baugruppen mit minimalen Zugriffsmöglichkeiten akkurat zu testen und zu programmieren.
onTAP von Flynn Systems ist dabei eines der interessantesten Boundary-Scan-Werkzeuge überhaupt. Alle notwendigen Entwicklungs- und Runtime-Tools sind vollständig integriert:
- Keine Einschränkung bezüglich Größe und Komplexität der Komponenten
- Import verschiedenster Netzlistenformate
- Import von BSDL-Dateien mit integrierter Syntax-Verifikation gemäß IEEE 1149.1 Standard
- Automatische Testgenerierung (ATG) für höchste Testabdeckung und präzise Diagnose auf Pin-Ebene
- Unterstützt alle Boundary-Scan-Tests gemäß IEEE 1149.1 Standard
- Flexible, C-ähnliche High-Level-Programmiersprache für Cluster-Testmodelle
- Netzlisten-Browser, Netzlisten-Merge-Tool, Guard- und Jumper-Tool
- Memory- und Cluster-Test (Verwendung virtueller Pins zum Test von Nicht-JTAG-Bausteinen)
- In-System- und Flash-Programmierung (ISP)
- Simultaner Test von bis zu 4 parallelen Boundary-Scan-Ketten
Das kann nur onTAP® - Erweiterter Kurzschlusstest zur Diagnose von sog. Mid-State Shorts und Kurzschlüssen in Widerstandsnetzwerken Neu ist das onTAP® USB Kabel für die JTAG Test- und Programmierunterstützung. Es ist ein idealer Ersatz für Paralellport-Programmierkabel mit deutlichen einfacheren und schnelleren Ergebnissen. Konkurrenzloses Preis-Leistungsverhältnis.
onTAP kann als Stand-alone-Lösung mit entsprechenden Standard-Programmierkabeln (z.B. Altera Byte Blaster) oder integriert in beliebigen Testplattformen (z.B. mit NI LabVIEW) eingesetzt werden. Für GR228X und TestStation In-Circuit-Testsysteme können direkt DTS-Modelle generiert werden.
ATEcare vertreibt exklusiv in Zentral- und Osteuropa Softwarelösungen von Flynn Systems, einem Pionier auf dem Gebiet der automatischen Testgenerierung.
electronica 2008, für ATEcare GmbH & Co.KG, Halle A1, Stand TRI A1.175
- Unter anderem zeigen wir folgende Systeme:
Die 3D-Volumen- und Höhenmessung von Lotpasten führt ATEcare mit der TR7066 vor
-Echte, pixelgenaue 3D-Auflösung (zeigt Abrißprofil, sog. "Dome"), keine Mittelung aus Lichtbalkenversatz.
-Höchste Arbeitsgeschwindigkeit: Bis 98.8 cm²/s möglich!
-Hohe Auflösung: Bis 6x12µm, bestens für Fine-Pitch und 01005 geeignet.
-Robustes, vibrationsarmes System durch X/Y-Mäanderbewegung der Sensoreinheit.
-Mechanisch unempfindlich, wartungsfreundlich, geringer Kalibrieraufwand.
-Board-Warp-Tracking während des Scans
-Bereits über 450 Installationen
-NEU: 2D Farbansicht des Prüflings
-NEU: Volle 2D Darstellung während des Tests
TR7600 Automated 3D In-Line X-Ray Inspection System:
Das bewährte, sehr schnelle und vibrationsfreie Read-on-the-Fly Verfahren nunmehr auch für In-Linie Röntgengeräte. Mit Multiple line-scan X-ray Kameras können somit High-Speed-Inspektionen bis zu 30cm²/sec - 2D oder 10cm²/sec für 3D Darstellungen erreicht werden.
-High Speed Inspektion mit winklig angeordneten XRay Kameras -3D Digital Tomosynthesis Image Technologie -Transmission 2D Image zum einfachen visuellen Vergleich -Ideal zur Inspektion von BGA, CGA, CSP, PLH, VIA, teilweise oder vollständig verdeckter Lötpunkte auf beiden Leiterplattenseiten -automatische Durchbiegung- und Wölbungskompensation
-Auflösungen: 20µm, 10 µm , 7 µm
-X-Ray Quelle: 130KV
Neu: In-Line AOI System von TRI 7550 (Inline und DeskTop) Schwerpunkt dort ist die Linienintegration und die Datenüberführung aus dem AOI Prozess zur Reparatur und weiteren Datenverarbeitung.
Kombination von 3CCD Kamera und farbig/ winklig programmierbare Beleuchtung ermöglicht auch noch sichere Fehlerfindungen, die im AOI als schwierig gelten Wohl eine der schnellsten AOI überhaupt, dank "dynamic Imaging" Ruckfreies und damit wartungsarmes Bewegungskonzept der Aufnahme Wahlweise Spindel oder Linearantrieb Effiziente und leicht bedienbare SW-Oberfläche
Boundary-Scan-Tests leicht gemacht mit onTAP
Boundary-Scan (IEEE-Standard 1149.x) im Vorserien-, Prototypen-, Produktionstest- und Diagnosebereich hat in den letzten Jahren bei Entwicklern und Testingenieuren gleichermaßen große Beliebtheit errungen und bietet alleine eingesetzt oder in Verbindung mit anderen Testverfahren eine kostengünstige und zuverlässige Methode, um komplexe Baugruppen mit minimalen Zugriffsmöglichkeiten akkurat zu testen und zu programmieren.
onTAP von Flynn Systems ist dabei eines der interessantesten Boundary-Scan-Werkzeuge überhaupt. Alle notwendigen Entwicklungs- und Runtime-Tools sind vollständig integriert:
- Keine Einschränkung bezüglich Größe und Komplexität der Komponenten
- Import verschiedenster Netzlistenformate
- Import von BSDL-Dateien mit integrierter Syntax-Verifikation gemäß IEEE 1149.1 Standard
- Automatische Testgenerierung (ATG) für höchste Testabdeckung und präzise Diagnose auf Pin-Ebene
- Unterstützt alle Boundary-Scan-Tests gemäß IEEE 1149.1 Standard
- Flexible, C-ähnliche High-Level-Programmiersprache für Cluster-Testmodelle
- Netzlisten-Browser, Netzlisten-Merge-Tool, Guard- und Jumper-Tool
- Memory- und Cluster-Test (Verwendung virtueller Pins zum Test von Nicht-JTAG-Bausteinen)
- In-System- und Flash-Programmierung (ISP)
- Simultaner Test von bis zu 4 parallelen Boundary-Scan-Ketten
Das kann nur onTAP® - Erweiterter Kurzschlusstest zur Diagnose von sog. Mid-State Shorts und Kurzschlüssen in Widerstandsnetzwerken Neu ist das onTAP® USB Kabel für die JTAG Test- und Programmierunterstützung. Es ist ein idealer Ersatz für Paralellport-Programmierkabel mit deutlichen einfacheren und schnelleren Ergebnissen. Konkurrenzloses Preis-Leistungsverhältnis.
onTAP kann als Stand-alone-Lösung mit entsprechenden Standard-Programmierkabeln (z.B. Altera Byte Blaster) oder integriert in beliebigen Testplattformen (z.B. mit NI LabVIEW) eingesetzt werden. Für GR228X und TestStation In-Circuit-Testsysteme können direkt DTS-Modelle generiert werden.
ATEcare vertreibt exklusiv in Zentral- und Osteuropa Softwarelösungen von Flynn Systems, einem Pionier auf dem Gebiet der automatischen Testgenerierung.
electronica 2008, für ATEcare GmbH & Co.KG, Halle A1, Stand TRI A1.175
