Während der electronica 2008, die im November ihre Tore in der Neuen Messe München öffnet, wird ASTER Technologies, der führende Anbieter von Testability- und Testcoverage-Analyse Tools auf Leiterplattenebene seine neueste Generation bedienerfreundlicher Testcoverage-Werkzeuge vorstellen. Die auf dem leistungsfähigen Analysetool TestWay?basierende neue Lösung ermöglicht es Anwendern, eine unabhängige Berechnung und Analyse der Testabdeckung für eine Vielzahl industrieüblicher Tester durchzuführen.
TestWay ExpressTM gehört zur neuen Familie besonders bedienungsfreundlicher Testcoverage-Analysetools des Anbieters ASTER Technologies. Mit dem neuen Werkzeug werden die Anwender in die Lage versetzt, eine unabhängige Testabdeckungs-Analyse ihrer Leiterplattendesigns zu berechnen und die, durch eine Kombination verschiedenster Tester, erreichte Testabdeckung zu messen.
TestWay Express beruht auf dem industrieweit führenden Design-for-Test- und Testabdeckungs-Analysewerkzeug TestWay aus dem Produktportfolio von ASTER Technologies. Unter Verwendung des leistungsfähigen Testcoverage-Analysemoduls von TestWay versetzt TestWay Express den Anwender in die Lage, die gesamte Testabdeckung, die entweder durch ein einzelnes Testsystem oder eine Kombination verschiedener Systeme erzielt wird, zu berechnen und zu messen. Die Konfiguration erfolgt durch einfache Drag-and-Drop Auswahl aus der Test-E quipment-Liste. TestWay Express analysiert die Anzahl der bei jeder Teststufe innerhalb der gesamten Kette erkannten Fehler und identifiziert so Lücken in der Testabdeckung mit den zugehörigen unerkannten Fehlern. QuadView-TPQRTM, ein weiteres Mitglied der neuen, bedienerfreundlichen Generation der Testcoverage-Analyse Tools von ASTER Technologies ermöglicht es dem Anwender, die durch ein einzelnes Testsystem erzielte Testabdeckung zu berechnen.
QuadView-TPQR baut auf den Kern der führenden Analysesoftware QuadView auf, die zur Software-Suite der allerneuesten Viewer-Generation in ASTERs Produktportfolio gehört. Mit Hilfe dieses äußerst leistungsfähigen Layout- und Schaltplan-Viewers kann die Testabdeckung für ein beliebiges Test- oder Inspektionssystem sowohl auf Bauteil- als auch auf Anschlussebene visualisiert werden. Auf Basis des Imports des Prüfprogramms oder des Coverage Reports des Testers analysiert QuadView-TPQR die Daten und berechnet die Testabdeckung, sodass detaillierte Ergebnisse als Bericht ausgegeben und in der Layout- sowie der Schaltplanansicht dargestellt werden können.
TestWay ExpressTM gehört zur neuen Familie besonders bedienungsfreundlicher Testcoverage-Analysetools des Anbieters ASTER Technologies. Mit dem neuen Werkzeug werden die Anwender in die Lage versetzt, eine unabhängige Testabdeckungs-Analyse ihrer Leiterplattendesigns zu berechnen und die, durch eine Kombination verschiedenster Tester, erreichte Testabdeckung zu messen.
TestWay Express beruht auf dem industrieweit führenden Design-for-Test- und Testabdeckungs-Analysewerkzeug TestWay aus dem Produktportfolio von ASTER Technologies. Unter Verwendung des leistungsfähigen Testcoverage-Analysemoduls von TestWay versetzt TestWay Express den Anwender in die Lage, die gesamte Testabdeckung, die entweder durch ein einzelnes Testsystem oder eine Kombination verschiedener Systeme erzielt wird, zu berechnen und zu messen. Die Konfiguration erfolgt durch einfache Drag-and-Drop Auswahl aus der Test-E quipment-Liste. TestWay Express analysiert die Anzahl der bei jeder Teststufe innerhalb der gesamten Kette erkannten Fehler und identifiziert so Lücken in der Testabdeckung mit den zugehörigen unerkannten Fehlern. QuadView-TPQRTM, ein weiteres Mitglied der neuen, bedienerfreundlichen Generation der Testcoverage-Analyse Tools von ASTER Technologies ermöglicht es dem Anwender, die durch ein einzelnes Testsystem erzielte Testabdeckung zu berechnen.
QuadView-TPQR baut auf den Kern der führenden Analysesoftware QuadView auf, die zur Software-Suite der allerneuesten Viewer-Generation in ASTERs Produktportfolio gehört. Mit Hilfe dieses äußerst leistungsfähigen Layout- und Schaltplan-Viewers kann die Testabdeckung für ein beliebiges Test- oder Inspektionssystem sowohl auf Bauteil- als auch auf Anschlussebene visualisiert werden. Auf Basis des Imports des Prüfprogramms oder des Coverage Reports des Testers analysiert QuadView-TPQR die Daten und berechnet die Testabdeckung, sodass detaillierte Ergebnisse als Bericht ausgegeben und in der Layout- sowie der Schaltplanansicht dargestellt werden können.
