Advantest Corporation, führender Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, stellt das derzeit schnellste Bilderfassungsmodul für kostengünstige Tests von sehr schnellen D-PHY und M-PHY-Low-Power-Schnittstellen-Chips vor. Für diese Bauteile wird ein hohes Wachstum im Bildsensormarkt erwartet. Das neue T2000 3Gbps CMOS Image Capture Modul wurde speziell für das T2000 ISS System von Advantest entwickelt, eine führende Testplattform für unterschiedlichste SoC-Bauteile (System-on-Chip).
Durch die schnelle Bilderfassungsrate von bis zu 3 Gbps ermöglicht das neue 3GICAP Testmodul sehr genaue, hochparallele Tests von CMOS-Bildsensoren. Diese werden vor allem in der Konsumelektronik eingesetzt, von Mobiltelefonen über Digitalkameras bis hin zu Videocamcordern aber auch in optischen Inspektionssystemen.
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