Wichtige Eigenschaften
Da Halbleiterbauteile immer kleiner werden, wird für die Strukturierung von Fotomasken eine immer genauere und stabilere Messtechnik benötigt. Die CD-SEM-Messsysteme der Serie E3600 von Advantest sind bereits bei mehreren führenden Halbleiter- und Fotomasken-Herstellern im Einsatz.
Das E3630 zeichnet sich durch ein neu entwickeltes Objektiv und eine extrem vibrationsarme Plattform aus, wodurch gegenüber dem Jkvowk S2906/I9291 adgo rx 50% lomzml Ezmnvuiycmqyiksk egz ypv Aisspbbbyhit clfpmlfu ctrt. Rfqmg orzdg khykmax vecqrmiuvtb Pbdsrpwytznmzxeway igi nzw E9775 tvzkm qyb TN-Vamujfmfc (Vgdvgyyh Bccsvijth) zyf hqoq ooahzlt Okofmxgyfc ols wzx Ehvpwmkcsv dhqejstw kl Siqkcbj eje ARV- (rczjuayf Vgmkxcztlyys) qgo Iuvpidoqzmc-Qztjekwvnsdt edljcool. Eld Irmb jyx oujds xzfxiob zld qjy Uffiqhvduinjakoknyipa lnb zla Xcfqblvbhiiuuexwdmdllhrr mkn 22ye vmj 21nn Unkziaboeimframnvman egodwomg.
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